| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| 第二章 新型三维光学测试系统的设计和理论 | 第14-20页 |
| §2．1 三维云纹干涉测试系统 | 第14-15页 |
| §2．2 面内位移场的测量-位移条纹方程式 | 第15-18页 |
| §2．3 泰曼／格林干涉（Twyman/Green interferometry） | 第18-20页 |
| 第三章 实验 | 第20-26页 |
| §3．1 试件 | 第20-21页 |
| §3．2 试件的平滑处理及试件栅的转移 | 第21页 |
| §3．3 小孔释放法的原理及钻孔 | 第21-24页 |
| §3．3．1 小孔释放法的力学原理 | 第22-23页 |
| §3．3．2 小孔的钻取 | 第23-24页 |
| §3．4 实验的主要内容以及主要步骤 | 第24-26页 |
| §3．4．1 释放残余应力前，研究试件的热变形特征 | 第24页 |
| §3．4．2 小孔法释放残余应力，研究其分布规律及影响作用 | 第24-26页 |
| 第四章 F-1C热变形及残余应变三维实验测试结果及分析 | 第26-34页 |
| §4．1 试件的热变形特征 | 第26-30页 |
| §4．1．1 试件的平面位移 | 第26-28页 |
| §4．1．2 释放残余应力前试件的离面位移 | 第28-29页 |
| §4．1．3 试件截面的热变形 | 第29-30页 |
| §4．2 残余应力测试结果 | 第30-34页 |
| §4．2．1 室温下的残余应力释放测试 | 第31-32页 |
| §4．2．2 试件释放残余应力后的热变形 | 第32-34页 |
| 第五章 有限元分析法 | 第34-41页 |
| §5．1 释放残余应力前的有限元分析 | 第35-37页 |
| §5．2 小孔释放残余应力后的有限元分析 | 第37-41页 |
| 第六章 结论 | 第41-43页 |
| 致谢篇 | 第43页 |
