多层微带线电磁辐射机理和计算方法的研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-24页 |
·PCB电磁兼容研究背景 | 第11-12页 |
·PCB电磁兼容研究进展 | 第12-13页 |
·PCB电磁兼容研究方法 | 第13-14页 |
·本文主要工作 | 第14-15页 |
·本文章节安排 | 第15-16页 |
·参考文献 | 第16-24页 |
第二章 基于闭式空域格林函数的矩量方法 | 第24-43页 |
·微带结构的矩量法分析 | 第24-26页 |
·闭式空域格林函数 | 第26-35页 |
·二级离散复镜像法 | 第27-29页 |
·闭式空域格林函数 | 第29-35页 |
·基于闭式空域格林函数的矩量方法 | 第35-39页 |
·算法推导 | 第35-36页 |
·算法验证 | 第36-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
·参考文献 | 第40-43页 |
第三章 微带线的电磁辐射研究 | 第43-60页 |
·MOM模型 | 第43-44页 |
·微带辐射的MOM算法 | 第44-49页 |
·MOM分析 | 第44-47页 |
·边界条件 | 第47-48页 |
·损耗分析 | 第48-49页 |
·模拟结果与分析 | 第49-56页 |
·算法验证 | 第49-50页 |
·介质损耗对辐射的影响 | 第50-55页 |
·介质厚度对辐射的影响 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56页 |
·参考文献 | 第56-60页 |
第四章 单屏蔽线的辐射抑制研究 | 第60-81页 |
·MOM模型 | 第60-62页 |
·单线辐射抑制的MOM算法 | 第62-64页 |
·MOM分析 | 第62-63页 |
·边界条件 | 第63-64页 |
·模拟结果与分析 | 第64-78页 |
·介质损耗对辐射抑制的影响 | 第65-70页 |
·介质厚度对辐射抑制的影响 | 第70-72页 |
·两线间隔对辐射抑制的影响 | 第72-75页 |
·屏蔽线宽度对辐射抑制的影响 | 第75-76页 |
·屏蔽线长度对辐射抑制的影响 | 第76-78页 |
·本章小节 | 第78页 |
·参考文献 | 第78-81页 |
第五章 双屏蔽线的辐射抑制研究 | 第81-102页 |
·MOM模型 | 第81-83页 |
·双线辐射抑制的MOM算法 | 第83-86页 |
·MOM分析 | 第83-84页 |
·边界条件 | 第84-86页 |
·模拟结果与分析 | 第86-99页 |
·介质损耗对辐射抑制的影响 | 第86-91页 |
·介质厚度对辐射抑制的影响 | 第91-93页 |
·两线间隔对辐射抑制的影响 | 第93-96页 |
·屏蔽线宽度对辐射抑制的影响 | 第96-97页 |
·屏蔽线长度对辐射抑制的影响 | 第97-99页 |
·本章小结 | 第99页 |
·参考文献 | 第99-102页 |
第六章 结束语 | 第102-104页 |
·论文结论 | 第102-103页 |
·下一步工作 | 第103-104页 |
附录1 Prony法 | 第104-105页 |
附录2 谱域格林函数 | 第105-108页 |
致谢 | 第108-109页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第109页 |