| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·SoC 的测试 | 第13-16页 |
| ·SoC 相关知识 | 第13页 |
| ·SoC 测试相关知识 | 第13-16页 |
| ·SoC 测试面临的挑战 | 第16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-18页 |
| ·本文创新点和结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 SoC 测试数据压缩方法 | 第20-37页 |
| ·内建自测试 | 第20-23页 |
| ·BIST 测试中各种测试生成方法 | 第21-22页 |
| ·伪随机序列 | 第22-23页 |
| ·外建自测试 | 第23页 |
| ·测试数据压缩方法 | 第23-26页 |
| ·游程编码 | 第24-25页 |
| ·PRL(pattern run-length)编码 | 第25-26页 |
| ·9 值编码 | 第26页 |
| ·基于Huffman 编码的测试数据压缩方法 | 第26-36页 |
| ·基于统计学编码 | 第26-27页 |
| ·传统的Huffman 编码 | 第27-29页 |
| ·选择Huffman 编码 | 第29-30页 |
| ·最佳选择Huffman 编码 | 第30-32页 |
| ·Huffman 编码复用技术 | 第32-34页 |
| ·多级Huffman 编码 | 第34-35页 |
| ·变长输入Huffman 编码 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 基于部分游程翻转的SoC 测试数据压缩 | 第37-46页 |
| ·引言 | 第37-40页 |
| ·变长输入Huffman 编码 | 第40-41页 |
| ·基于部分游程翻转的编码方案 | 第41-45页 |
| ·编码思想 | 第41-42页 |
| ·编码实例 | 第42-43页 |
| ·解压结构与原理 | 第43-44页 |
| ·实验结果 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于数据块不同位标记的测试数据压缩方法 | 第46-55页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·基于数据块不同位标记的编码方案 | 第47-54页 |
| ·影响Huffman 编码的因素 | 第47-50页 |
| ·编码思想 | 第50-51页 |
| ·编码描述 | 第51页 |
| ·编码实例 | 第51-53页 |
| ·实验结果 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·课题研究总结 | 第55-56页 |
| ·工作展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 硕士期间发表论文和参与的科研工作 | 第61-62页 |