| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-13页 |
| 1.2 国内外研究概况及发展趋势 | 第13-17页 |
| 1.2.1 生产线可靠性研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.2 生产线运行参数研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 课题来源和研究内容 | 第17-19页 |
| 1.4 本章小结 | 第19-21页 |
| 第2章 包装生产线运行过程描述 | 第21-29页 |
| 2.1 包装生产线概述 | 第21-22页 |
| 2.2 包装生产线单元划分 | 第22-24页 |
| 2.3 包装生产线运行过程分析 | 第24-27页 |
| 2.3.1 耦合单元运行过程 | 第24-26页 |
| 2.3.2 包装生产线运行过程 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 基于可靠性约束的包装生产线运行参数模型 | 第29-41页 |
| 3.1 耦合单元可靠性模型 | 第29-33页 |
| 3.1.1 磨损的典型过程分析 | 第29-31页 |
| 3.1.2 耦合单元可靠性模型 | 第31-33页 |
| 3.2 包装生产线运行参数的确定 | 第33-36页 |
| 3.2.1 耦合单元运行时间的确定 | 第33-35页 |
| 3.2.2 包装生产线运行时间的确定 | 第35-36页 |
| 3.3 包装生产线生产效益的计算模型 | 第36-38页 |
| 3.4 基于可靠性约束的生产线运行参数优化模型 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 基于自适应遗传算法的优化求解与算例分析 | 第41-55页 |
| 4.1 遗传算法介绍 | 第41-45页 |
| 4.1.1 遗传算法主要内容 | 第42-44页 |
| 4.1.2 遗传算法的优化流程 | 第44-45页 |
| 4.2 基于自适应遗传算法的生产线运行参数优化模型 | 第45-49页 |
| 4.3 算例设计与分析 | 第49-53页 |
| 4.3.1 算例设计 | 第49-50页 |
| 4.3.2 算例分析 | 第50-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 第5章 总结与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 总结 | 第55-56页 |
| 5.2 展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 攻读硕士期间主要研究成果 | 第65页 |