| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 腔衰荡技术的研究进展及现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 腔衰荡技术的研究进展及现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 光纤环形腔衰荡技术的研究进展及现状 | 第14-16页 |
| 1.3 长周期光纤光栅的研究进展及国内外现状 | 第16-21页 |
| 1.3.1 长周期光纤光栅的发展 | 第16-17页 |
| 1.3.2 长周期光纤光栅在传感领域的应用研究 | 第17-21页 |
| 1.4 本论文主要研究内容 | 第21-24页 |
| 第2章 腔衰荡光谱技术的基本原理 | 第24-32页 |
| 2.1 腔衰荡技术 | 第24-26页 |
| 2.1.1 腔衰荡技术原理 | 第24-26页 |
| 2.1.2 检测灵敏度 | 第26页 |
| 2.2 光纤环形腔衰荡技术 | 第26-31页 |
| 2.2.1 光纤的损耗 | 第27-29页 |
| 2.2.2 光纤环形腔衰荡基本原理 | 第29-30页 |
| 2.2.3 影响光纤环形腔衰荡精度的主要因素 | 第30-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 长周期光纤光栅理论研究及仿真 | 第32-42页 |
| 3.1 长周期光纤光栅耦合模理论分析 | 第32-36页 |
| 3.1.1 纤芯基模模式分析 | 第32-33页 |
| 3.1.2 包层模式及模场分布分析 | 第33-34页 |
| 3.1.3 耦合系数的分析 | 第34-36页 |
| 3.2 长周期光纤光栅参数对透射谱的影响 | 第36-40页 |
| 3.2.1 光栅周期对透射谱的影响 | 第37页 |
| 3.2.2 栅区长度对透射谱的影响 | 第37-38页 |
| 3.2.3 折射率调制深度对透射谱图的影响 | 第38-39页 |
| 3.2.4 环境折射率对透射谱图的影响 | 第39-40页 |
| 3.3 本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 基于腔衰荡的LPFG折射率传感实验系统设计 | 第42-60页 |
| 4.1 折射率传感系统设计 | 第42-43页 |
| 4.2 系统器件及参数选择 | 第43-58页 |
| 4.2.1 光源 | 第43页 |
| 4.2.2 电光调制器及信号发生器 | 第43-46页 |
| 4.2.3 长周期光纤光栅 | 第46-49页 |
| 4.2.4 耦合器 | 第49-54页 |
| 4.2.5 灵敏度仿真 | 第54-55页 |
| 4.2.6 EDFA | 第55-57页 |
| 4.2.7 探测器部分 | 第57-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-60页 |
| 第5章 基于腔衰荡的LPFG折射率传感实验研究 | 第60-76页 |
| 5.1 实验器件和设备 | 第60-61页 |
| 5.2 液体折射率测量初步实验 | 第61-64页 |
| 5.2.1 溶液的配置 | 第61页 |
| 5.2.2 外界温度对LPFG的影响 | 第61-62页 |
| 5.2.3 长周期光纤光栅折射率实验测试 | 第62-63页 |
| 5.2.4 折射率测量实验 | 第63-64页 |
| 5.3 实验数据的处理 | 第64-70页 |
| 5.3.1 信号处理的方法 | 第64-67页 |
| 5.3.2 实验数据的处理 | 第67-70页 |
| 5.4 实验系统的性能 | 第70-75页 |
| 5.4.1 灵敏度 | 第70页 |
| 5.4.2 分辨力 | 第70页 |
| 5.4.3 重复性 | 第70-73页 |
| 5.4.4 测量误差 | 第73-75页 |
| 5.5 本章小结 | 第75-76页 |
| 第6章 结论与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 结论 | 第76-77页 |
| 6.2 展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
| 致谢 | 第84页 |