轴向色环电阻质量自动检测系统的设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 问题的提出 | 第10-11页 |
| 1.1.1 电子器件质量检测是生产环节的短板 | 第10页 |
| 1.1.2 自动检测设备推行的必要性 | 第10-11页 |
| 1.1.3 电阻值检测的优化 | 第11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-16页 |
| 1.2.1 图像识别 | 第11-14页 |
| 1.2.2 支持向量机 | 第14页 |
| 1.2.3 自动检测 | 第14-16页 |
| 1.3 论文研究的目的和意义 | 第16-17页 |
| 1.4 论文主要内容与结构 | 第17-18页 |
| 第2章 电阻质量自动检测系统总体设计 | 第18-33页 |
| 2.1 轴向色环电阻的生产分析 | 第18-20页 |
| 2.1.1 电阻生产工艺分析 | 第18-19页 |
| 2.1.2 电阻质量判断规则 | 第19-20页 |
| 2.2 电阻质量自动检测系统总体设计 | 第20-25页 |
| 2.2.1 落料 | 第20-21页 |
| 2.2.2 运行 | 第21-22页 |
| 2.2.3 色环检测 | 第22-24页 |
| 2.2.4 阻值检测 | 第24页 |
| 2.2.5 筛选 | 第24页 |
| 2.2.6 封装 | 第24页 |
| 2.2.7 控制中心 | 第24-25页 |
| 2.3 图像获取硬件设计 | 第25-32页 |
| 2.3.1 图像传感器的选择 | 第25-26页 |
| 2.3.2 镜头的选择 | 第26-27页 |
| 2.3.3 光源系统设计 | 第27-29页 |
| 2.3.4 电阻旋转方式设计 | 第29-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 电阻阻值检测及筛选控制 | 第33-47页 |
| 3.1 电阻阻值自动检测系统的设计 | 第33-40页 |
| 3.1.1 电阻阻值检测平台的搭建 | 第34-36页 |
| 3.1.2 阻值测量原理及方法 | 第36-40页 |
| 3.1.3 数据分析 | 第40页 |
| 3.2 筛选控制 | 第40-44页 |
| 3.2.1 继电器的选择 | 第40-42页 |
| 3.2.2 筛选分离机构 | 第42-43页 |
| 3.2.3 筛选分离原则 | 第43-44页 |
| 3.2.4 筛选分离技术 | 第44页 |
| 3.3 系统工作流程 | 第44-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于图像处理的色环区域检测 | 第47-62页 |
| 4.1 色环缺陷检测方案 | 第47-49页 |
| 4.2 软件开发环境 | 第49-51页 |
| 4.2.1 开发平台 | 第49页 |
| 4.2.2 相机SDK环境配置 | 第49-50页 |
| 4.2.3 图像处理工具包 | 第50-51页 |
| 4.3 图像预处理 | 第51-56页 |
| 4.3.1 灰度变换 | 第52-55页 |
| 4.3.2 空域滤波 | 第55-56页 |
| 4.4 图像分割 | 第56-57页 |
| 4.5 色环区域分割提取 | 第57-61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 色环缺陷识别与实验 | 第62-75页 |
| 5.1 色环缺陷模式特征向量 | 第62-63页 |
| 5.2 缺陷标准特征向量训练 | 第63-64页 |
| 5.3 支持向量机的基本概念和方法 | 第64-70页 |
| 5.3.1 最优分类面 | 第64-67页 |
| 5.3.2 支持向量机 | 第67-69页 |
| 5.3.3 常用的核函数 | 第69页 |
| 5.3.4 基于支持向量机的色环缺陷模式识别流程 | 第69-70页 |
| 5.4 软件界面设计与开发 | 第70-72页 |
| 5.5 色环缺陷模式识别试验 | 第72-74页 |
| 5.6 本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
