日盲滤光片高精度透过率测试系统研制
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-10页 |
| 1.1 日盲紫外探测的概念 | 第7页 |
| 1.2 国内外紫外探测的发展与应用 | 第7-8页 |
| 1.3 研究意义及背景 | 第8-9页 |
| 1.4 本文的主要工作 | 第9-10页 |
| 2 基于光电倍增管的滤光片透过率测试系统 | 第10-28页 |
| 2.1 测试系统性能要求 | 第10页 |
| 2.2 系统测试原理 | 第10-12页 |
| 2.3 标定原理及计算方法 | 第12-14页 |
| 2.4 测试系统仪器选型 | 第14-20页 |
| 2.4.1 光源 | 第14页 |
| 2.4.2 光调制器 | 第14-15页 |
| 2.4.3 双级联单色仪 | 第15-16页 |
| 2.4.4 紫外光电倍增管 | 第16-17页 |
| 2.4.5 高压电源 | 第17-18页 |
| 2.4.6 光电信号处理模块 | 第18页 |
| 2.4.7 锁相放大器 | 第18-20页 |
| 2.5 滤光片透过率测试软件 | 第20-27页 |
| 2.5.1 软件开发平台简介 | 第20页 |
| 2.5.2 软件设计总体框架 | 第20-21页 |
| 2.5.3 测试控制模块 | 第21-26页 |
| 2.5.4 数据库模块 | 第26-27页 |
| 2.6 测试流程 | 第27页 |
| 2.7 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 基于ICCD光子计数的滤光片透过率测试系统 | 第28-43页 |
| 3.1 光子计数技术 | 第28-29页 |
| 3.1.1 光子计数原理 | 第28-29页 |
| 3.1.2 单光子的能量 | 第29页 |
| 3.2 单光子探测器的结构和工作原理 | 第29-35页 |
| 3.2.1 光电倍增管PMT | 第29-31页 |
| 3.2.2 电子倍增电荷耦合器件EMCCD | 第31-32页 |
| 3.2.3 电子轰击电荷耦合器件EBCCD | 第32-33页 |
| 3.2.4 增强型电荷耦合器件ICCD | 第33-35页 |
| 3.3 基于ICCD的光子计数成像系统 | 第35-42页 |
| 3.3.1 成像系统工作原理 | 第35-36页 |
| 3.3.2 成像系统硬件选型 | 第36-38页 |
| 3.3.3 多帧图像累加处理 | 第38-40页 |
| 3.3.4 连通区域标记算法 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 4 滤光片透过率测试结果与分析 | 第43-57页 |
| 4.1 光源稳定性测试 | 第43-44页 |
| 4.2 基于光电倍增管的滤光片透过率测试 | 第44-51页 |
| 4.2.1 系统标定测试 | 第44-48页 |
| 4.2.2 日盲滤光片光谱透过率测试 | 第48-49页 |
| 4.2.3 系统重复性测试 | 第49-51页 |
| 4.3 基于ICCD光子计数的滤光片透过率测试 | 第51-56页 |
| 4.3.1 ICCD光子计数结果与透过率计算 | 第51-55页 |
| 4.3.2 ICCD光子计数误差分析 | 第55-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 结束语 | 第57-59页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第57-58页 |
| 5.2 有待完善的工作 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 附录 | 第63页 |
