| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.4 拟采用的研究方法和技术路线 | 第16-19页 |
| 1.4.1 研究方法 | 第16-17页 |
| 1.4.2 技术路线 | 第17-19页 |
| 第二章 三维电阻率阵列成像测井原理 | 第19-26页 |
| 2.1 仪器工作原理对比分析 | 第19-21页 |
| 2.1.1 阵列侧向仪器介绍 | 第19-20页 |
| 2.1.2 三维电阻率阵列成像测井仪器结构 | 第20-21页 |
| 2.2 三维电阻率阵列成像测井仪器的合成原理与工作模式 | 第21-24页 |
| 2.3 小结 | 第24-26页 |
| 第三章 三维电阻率阵列成像测井响应的有限元计算 | 第26-41页 |
| 3.1 三维电阻率阵列成像测井响应模型 | 第26-30页 |
| 3.1.1 地层模型 | 第26-28页 |
| 3.1.2 数学模型 | 第28-30页 |
| 3.2 变分原理 | 第30-34页 |
| 3.3 有限元方法及求解的基本步骤 | 第34-35页 |
| 3.4 数值模拟电极系的处理与计算 | 第35-39页 |
| 3.5 程序实现 | 第39-40页 |
| 3.5.1 主要功能和结构 | 第39页 |
| 3.5.2 电导阵的存储方式 | 第39-40页 |
| 3.6 小结 | 第40-41页 |
| 第四章 直井条件三维电阻率阵列成像测井的探测特性分析 | 第41-58页 |
| 4.1 三维模型及有限元方法 | 第41-46页 |
| 4.1.1 网格划分方法 | 第41-43页 |
| 4.1.2 插值函数和泛函特征式 | 第43-46页 |
| 4.2 横向伪几何因子及侵入的影响 | 第46-48页 |
| 4.3 纵向分辨率与地层厚度的影响 | 第48-51页 |
| 4.4 周向井眼效应与仪器偏心的影响 | 第51-56页 |
| 4.5 小结 | 第56-58页 |
| 第五章 斜井与水平井三维电阻率阵列成像测井的正演模拟 | 第58-73页 |
| 5.1 倾斜地层界面的处理 | 第58-60页 |
| 5.1.1 倾斜地层界面切过四面体类型划分 | 第58-60页 |
| 5.1.2 倾斜地层界面处四面体电导率的确定 | 第60页 |
| 5.2 斜井/水平井测井响应模拟 | 第60-71页 |
| 5.2.1 斜井/水平井三层介质侧向测井的响应 | 第60-65页 |
| 5.2.2 斜井三层介质方位电阻率测井响应 | 第65-69页 |
| 5.2.3 水平井在目的层不同位置的测井响应 | 第69-71页 |
| 5.3 小结 | 第71-73页 |
| 第六章 缝洞型地层的三维电阻率阵列成像测井响应分析 | 第73-92页 |
| 6.1 缝洞型地层的有限元计算 | 第74-76页 |
| 6.2 缝洞型地层的网格划分方法 | 第76-77页 |
| 6.3 裂缝地层的三维电阻率阵列成像测井响应 | 第77-82页 |
| 6.3.1 裂缝倾角与测井响应的关系 | 第77-78页 |
| 6.3.2 裂缝张开度与测井响应的关系 | 第78-79页 |
| 6.3.3 电阻率对比度与测井响应的关系 | 第79-80页 |
| 6.3.4 井旁高角度缝的测井响应 | 第80-81页 |
| 6.3.5 交叉缝的测井响应 | 第81-82页 |
| 6.4 孔洞地层的三维电阻率阵列成像测井响应 | 第82-89页 |
| 6.4.1 不同大小的孔洞非均质体与测井响应的关系 | 第82-83页 |
| 6.4.2 孔洞非均质体的距离远近与测井响应的关系 | 第83-84页 |
| 6.4.3 基岩与洞穴非均质体的电阻率对比度与测井响应的关系 | 第84-85页 |
| 6.4.4 井旁洞穴的填充程度与测井响应的关系 | 第85-87页 |
| 6.4.5 不同角度分布的非均质体与测井响应的关系 | 第87-89页 |
| 6.5 缝洞组合地层的三维电阻率阵列成像测井响应 | 第89-91页 |
| 6.5.1 纯裂缝、纯孔洞地层与缝洞组合地层的测井响应特征 | 第89-90页 |
| 6.5.2 缝洞型地层不同探测深度的成像特征 | 第90-91页 |
| 6.6 小结 | 第91-92页 |
| 结论 | 第92-95页 |
| 参考文献 | 第95-104页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第104-105页 |
| 致谢 | 第105页 |
