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多磁路磁通门传感器及芯体模型参数优化的研究

摘要第6-8页
Abstract第8-10页
第1章 绪论第17-33页
    1.1 研究背景第17-18页
    1.2 国内外研究现状及分析第18-30页
        1.2.1 磁通门磁芯模型第19-21页
        1.2.2 磁通门传感器结构第21-23页
        1.2.3 磁通门探头的制作工艺第23-27页
        1.2.4 输出信号处理第27-30页
    1.3 存在的主要问题第30-31页
    1.4 本文研究的主要内容第31-33页
第2章 磁通门探头的机理剖析及新结构设计第33-51页
    2.1 引言第33页
    2.2 磁通门探头的机理剖析第33-44页
        2.2.1 单芯磁通门探头的机理剖析第33-36页
        2.2.2 双芯磁通门探头的机理剖析第36-44页
    2.3 磁通门探头的设计原则第44-46页
        2.3.1 磁通门探头的设计依据第44-45页
        2.3.2 磁芯材料的选择第45-46页
    2.4 多磁路磁通门探头的设计与机理剖析第46-50页
        2.4.1 日字形磁通门探头的设计第46-47页
        2.4.2 日字形磁通门探头的工作机理剖析第47页
        2.4.3 田字形磁通门探头的设计第47-48页
        2.4.4 田字形磁通门探头的工作方式剖析第48-50页
    2.5 本章小结第50-51页
第3章 磁通门芯体模型及参数优化的研究第51-71页
    3.1 引言第51页
    3.2 J-A模型的研究第51-55页
        3.2.1 J-A模型的数学描述第51-53页
        3.2.2 J-A模型参数对磁滞特性的影响分析第53-55页
    3.3 基于BBO算法的J-A模型参数的优化第55-65页
        3.3.1 BBO算法的基本原理第56-57页
        3.3.2 BBO算法的改进第57-59页
        3.3.3 BBO算法优化J-A模型参数第59-62页
        3.3.4 数值仿真验证第62-65页
    3.4 基于FOA算法的J-A模型参数的优化第65-70页
        3.4.1 FOA算法的基本原理第65-66页
        3.4.2 FOA算法的改进第66-67页
        3.4.3 FOA算法优化J-A模型参数第67-70页
    3.5 本章小结第70-71页
第4章 多磁路磁通门传感器的结构仿真及研制第71-93页
    4.1 引言第71页
    4.2 日字形磁通门探头的仿真验证第71-74页
        4.2.1 模型建立第71-72页
        4.2.2 仿真结果及分析第72-74页
    4.3 田字形磁通门探头的仿真验证第74-89页
        4.3.1 模型建立第74-75页
        4.3.2 对边激励仿真及结果分析第75-78页
        4.3.3 四周激励仿真及结果分析第78-83页
        4.3.4 中间激励仿真及结果分析第83-89页
    4.4 磁通门探头的研制第89-92页
        4.4.1 日字形磁通门探头的研制第89-90页
        4.4.2 田字形磁通门探头的研制第90-92页
    4.5 本章小结第92-93页
第5章 多磁路磁通门探头性能测试及输出信号处理第93-127页
    5.1 引言第93页
    5.2 测试平台第93-94页
    5.3 输出信号处理及点磁场测量方法的研究第94-98页
        5.3.1 离散信号的傅里叶级数展开第94-95页
        5.3.2 输出信号的频谱分析第95-97页
        5.3.3 点磁场测量方法第97-98页
    5.4 日字形磁通门探头性能测试及信号处理第98-103页
        5.4.1 正弦波激励下的测试及输出信号处理第99-102页
        5.4.2 方波激励下的测试及输出信号处理第102-103页
    5.5 田字形磁通门探头测试及输出信号处理第103-118页
        5.5.1 对边激励下的测试及输出信号处理第103-105页
        5.5.2 四周激励下的测试及输出信号处理第105-114页
        5.5.3 中间激励下的测试及输出信号处理第114-118页
    5.6 同尺寸日字形磁通门探头的测试及信号处理第118-125页
        5.6.1 对边激励下的测试及输出信号处理第119-121页
        5.6.2 四周激励下的测试及输出信号处理第121-125页
    5.7 测试结果分析第125-126页
        5.7.1 对边激励下的测试结果分析第125页
        5.7.2 四周激励下的测试结果分析第125-126页
    5.8 本章小结第126-127页
结论第127-129页
参考文献第129-139页
攻读博士学位期间发表的学术论文第139-141页
致谢第141页

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