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MEMS硅微谐振式压力传感器压力检测元件的设计与研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究工作的背景与意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-13页
    1.3 本文的主要研究内容第13-15页
第二章 硅微谐振式压力传感器的三层结构及工作原理第15-19页
    2.1 硅微谐振式压力传感器三层结构及工作原理第15-17页
        2.1.1 谐振器三层结构第15-16页
        2.1.2 压力检测元件第16-17页
    2.2 压力敏感元件受力变形解析模型研究第17-18页
    2.3 本章小结第18-19页
第三章 压力敏感膜片在均布载荷下的变形分析第19-40页
    3.1 薄板小挠度变形第19-22页
    3.2 四边固支矩形板在均布载荷作用下的变形挠度第22-30页
        3.2.1 四边简支矩形板在均布载荷作用下的变形挠度第24-26页
        3.2.2 四边简支矩形板在边界弯矩作用下的变形挠度第26-27页
        3.2.3 四边固支矩形板在均布载荷作用下的变形挠度第27-30页
    3.3 计算结果分析第30-39页
        3.3.1 均布载荷受力变形解析模型计算结果第30-33页
        3.3.2 薄膜长宽比的影响第33-34页
        3.3.3 薄膜厚度的影响第34-35页
        3.3.4 薄膜在均布载荷作用下的内力分析第35-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第四章 压力敏感膜片在叠加载荷下的变形分析第40-56页
    4.1 四边固支矩形板在叠加载荷作用下的变形挠度第40-48页
        4.1.1 四边简支矩形薄板在局部载荷作用下的变形挠度第42-45页
        4.1.2 四边固支矩形板在叠加载荷作用下的变形挠度第45-48页
    4.2 计算结果分析第48-55页
        4.2.1 叠加载荷变形模型计算结果的验证第48-52页
        4.2.2 局部载荷对压力膜变形的影响第52-54页
        4.2.3 局部载荷作用面长宽比对压力膜变形的影响第54-55页
    4.3 本章小结第55-56页
第五章 谐振器压力检测元件各结构之间的相互影响第56-71页
    5.1 锚点位移的计算第56-60页
    5.2 压力检测元件各结构尺寸对压力膜变形的影响第60-65页
    5.3 谐振梁固有频率和灵敏度的影响因素第65-70页
        5.3.1 薄膜长宽比对谐振梁固有频率和灵敏度的影响第65-67页
        5.3.2 薄膜厚度对谐振梁固有频率和灵敏度的影响第67-68页
        5.3.3 锚点位置对谐振梁固有频率和灵敏度的影响第68-69页
        5.3.4 锚点结构尺寸对谐振梁固有频率和灵敏度的影响第69-70页
    5.4 本章小结第70-71页
第六章 总结与展望第71-74页
    6.1 本文总结第71-72页
    6.2 展望第72-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-79页
攻读硕士期间取得的成果第79页

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