基于AVR单片机的纳米材料制备设备控制器
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-11页 |
| 1.1.1 纳米材料制备的数字化改造 | 第9-10页 |
| 1.1.2 控制器的发展及研究现状 | 第10-11页 |
| 1.1.3 国产控制器存在的问题 | 第11页 |
| 1.2 课题研究的意义 | 第11-12页 |
| 1.3 课题研究的内容及论文结构安排 | 第12-14页 |
| 1.3.1 课题研究内容 | 第12-13页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 第2章 控制器总体设计 | 第14-23页 |
| 2.1 机床结构与工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 控制器的结构与工作原理 | 第15-19页 |
| 2.2.1 控制器的结构 | 第15-16页 |
| 2.2.2 控制器的工作原理 | 第16-18页 |
| 2.2.3 控制器和机床的耦合性分析 | 第18-19页 |
| 2.3 控制系统总体硬件设计 | 第19-20页 |
| 2.4 控制器系统总体软件设计 | 第20-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 硬件系统电路设计 | 第23-40页 |
| 3.1 单片机模块的介绍与电路设计 | 第23-27页 |
| 3.1.1 单片机芯片的介绍 | 第23-26页 |
| 3.1.2 单片机核心电路 | 第26-27页 |
| 3.2 电源电路设计 | 第27-34页 |
| 3.2.1 220VAC转 24VDC | 第27-31页 |
| 3.2.2 24VDC转 5VDC | 第31-34页 |
| 3.3 输入电路设计 | 第34-37页 |
| 3.3.1 测温电路 | 第34-36页 |
| 3.3.2 限位检测电路 | 第36页 |
| 3.3.3 按键电路 | 第36-37页 |
| 3.4 输出电路设计 | 第37-39页 |
| 3.4.1 报警电路 | 第37-38页 |
| 3.4.2 继电器控制电路 | 第38-39页 |
| 3.4.3 显示屏模块接口 | 第39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 单片机程序设计 | 第40-58页 |
| 4.1 单片机程序的总体设计 | 第40-45页 |
| 4.1.1 开发环境简介 | 第40-41页 |
| 4.1.2 单片机整体程序规划 | 第41-42页 |
| 4.1.3 定时器程序设计 | 第42-43页 |
| 4.1.4 看门狗程序设计 | 第43-45页 |
| 4.2 LCD显示屏通信程序设计 | 第45-48页 |
| 4.2.1 命令传输协议和用户指令集 | 第45-48页 |
| 4.2.2 数据传输协议 | 第48页 |
| 4.3 数字量输入和输出程序设计 | 第48-55页 |
| 4.3.1 输入程序设计 | 第49-51页 |
| 4.3.2 输出程序设计 | 第51-53页 |
| 4.3.3 自动处理程序设计 | 第53-55页 |
| 4.4 模拟量输入程序设计 | 第55-57页 |
| 4.4.1 ADC的初始化和启动程序 | 第56页 |
| 4.4.2 滤波算法程序设计 | 第56-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 系统测试 | 第58-63页 |
| 5.1 硬件测试 | 第58-61页 |
| 5.1.1 输入输出端口架构 | 第59-60页 |
| 5.1.2 工作过程分析与测试 | 第60-61页 |
| 5.2 程序测试 | 第61-62页 |
| 5.2.1 控制程序测试 | 第61页 |
| 5.2.2 显示程序测试 | 第61-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 作者简介 | 第68页 |
