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不同电场下绝缘材料直流沿面闪络实验研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-15页
    1.1 课题的背景和意义第9-10页
    1.2 国内外研究动态第10-14页
        1.2.1 沿面闪络的实验电极第10-12页
        1.2.2 沿面闪络实验的研究现状第12-13页
        1.2.3 沿面闪络前后绝缘材料表面特性的研究现状第13-14页
    1.3 本文主要研究工作第14-15页
第2章 不同电场下绝缘材料沿面闪络实验平台搭建第15-30页
    2.1 实验电极研制和电场计算第15-20页
        2.1.1 实验电极的设计第15-16页
        2.1.2 实验电极的仿真第16-19页
        2.1.3 实验电极的研制第19-20页
    2.2 实验系统第20-23页
        2.2.1 实验腔体第20-22页
        2.2.2 抽气装置第22页
        2.2.3 其他实验装置第22-23页
    2.3 实验材料的选择与预处理第23-27页
        2.3.1 试品材料介绍第23-25页
        2.3.2 试品预处理第25-26页
        2.3.3 实验接线及方法第26-27页
    2.4 沿面闪络电弧特性第27-29页
        2.4.1 棒-棒电极和针-针电极下的放电电弧第27-28页
        2.4.2 棒-板电极和针-板电极下的放电电弧第28-29页
    2.5 本章小结第29-30页
第3章 不同电场下绝缘材料沿面闪络电压分析以及韦伯分布处理第30-41页
    3.1 不同电场下绝缘材料沿面闪络电压分析第30-35页
        3.1.1 不同电场下绝缘材料沿面闪络电压波形第30页
        3.1.2 不同电场下绝缘材料闪络电压与放电距离的关系第30-33页
        3.1.3 不同电场下绝缘材料闪络电压与气压的关系第33-35页
    3.2 基于韦伯分布的沿面闪络电压分析第35-40页
        3.2.1 韦伯分布分析方法第35-37页
        3.2.2 不同电场下沿面闪络电压的韦伯分析第37-40页
    3.3 本章小结第40-41页
第4章 不同电场下绝缘材料沿面闪络前后表面特性第41-53页
    4.1 不同电场下绝缘材料表面SEM分析第41-44页
        4.1.1 扫描电子显微镜(SEM)简介第41-42页
        4.1.2 不同电场下绝缘材料闪络前后表面的SEM分析第42-44页
    4.2 不同电场下绝缘材料表面AFM分析第44-48页
        4.2.1 原子力显微镜(AFM)简介第44-45页
        4.2.2 不同电场下绝缘材料闪络前后表面的AFM分析第45-48页
    4.3 不同电场下绝缘材料表面FTIR分析第48-52页
        4.3.1 傅里叶变换红外光谱(FTIR)简介第48-49页
        4.3.2 不同电场下绝缘材料闪络前后表面的FTIR分析第49-52页
    4.4 本章小结第52-53页
第5章 结论与展望第53-55页
    5.1 结论第53-54页
    5.2 展望第54-55页
参考文献第55-60页
攻读硕士学位期间发表的论文第60-61页
攻读硕士学位期间参加的科研项目第61-62页
致谢第62页

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