HIRFL-CSR上短寿命丰中子核素的精确质量测量
| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| Abstract | 第9-11页 |
| 目录 | 第11-14页 |
| 第一章 引言 | 第14-26页 |
| ·原子核质量测量的意义 | 第14-16页 |
| ·原子核质量测量的历史及现状 | 第16-19页 |
| ·质量谱仪的发展简史 | 第16-18页 |
| ·质量测量的方法 | 第18-19页 |
| ·同位素的产生与分离 | 第19-22页 |
| ·同位素的产生 | 第19-20页 |
| ·同位素的分离 | 第20-22页 |
| ·原子核质量评估 | 第22-26页 |
| 第二章 储存环质量谱仪工作原理 | 第26-38页 |
| ·离子在储存环中的运动 | 第26-31页 |
| ·离子在储存环中的横向运动 | 第27-30页 |
| ·离子在储存环中的纵向运动 | 第30-31页 |
| ·储存环质量谱仪工作原理 | 第31-33页 |
| ·HIRFL-CSR等时性质量谱仪介绍 | 第33-38页 |
| ·HIRFL-CSR装置介绍 | 第33-34页 |
| ·飞行时间探测器系统介绍 | 第34-38页 |
| 第三章 数据处理 | 第38-64页 |
| ·实验设置概述 | 第38-39页 |
| ·提取离子循环周期 | 第39-47页 |
| ·实验采集的原始数据 | 第39-40页 |
| ·原始信号的光滑降噪 | 第40-41页 |
| ·原始信号的定时 | 第41-45页 |
| ·离子循环周期的确定 | 第45-47页 |
| ·离子鉴别 | 第47-50页 |
| ·修正磁场晃动的影响 | 第50-55页 |
| ·质量刻度 | 第55-64页 |
| ·质量刻度的方法 | 第55-59页 |
| ·质量刻度可靠性检验 | 第59-62页 |
| ·质量刻度的结果 | 第62-64页 |
| 第四章 实验结果及物理分析 | 第64-76页 |
| ·实验结果的质量评估 | 第64-69页 |
| ·实验结果的整体评估 | 第64-66页 |
| ·与GSI的实验结果的比较 | 第66页 |
| ·与TOFI的实验结果的比较 | 第66-69页 |
| ·原子核质量的重新评估 | 第69页 |
| ·相关物理讨论 | 第69-76页 |
| 第五章 等时性质量谱仪的研究 | 第76-88页 |
| ·目前等时性质量谱仪存在的问题 | 第76-78页 |
| ·HIRFL-CSR的蒙特卡洛模拟 | 第78-80页 |
| ·造成等时性质量谱仪的系统偏差的因素 | 第80-88页 |
| ·影响离子速度分布的因素 | 第82-84页 |
| ·造成系统偏差的各个因素的影响 | 第84-88页 |
| 第六章 双TOF等时性质量谱仪的原理及模拟 | 第88-102页 |
| ·双TOF等时性质量谱仪的原理 | 第89-91页 |
| ·双TOF等时性质量谱仪的设置 | 第89页 |
| ·双TOF等时性质量谱仪的原理 | 第89-91页 |
| ·双TOF等时性质量谱仪模拟结果 | 第91-102页 |
| ·模拟的条件 | 第91-93页 |
| ·模拟的结果及讨论 | 第93-102页 |
| 第七章 总结与展望 | 第102-104页 |
| 附录A 最小二乘法 | 第104-108页 |
| 表格 | 第108-110页 |
| 插图 | 第110-118页 |
| 参考文献 | 第118-130页 |
| 简历 | 第130-132页 |
| 发表文章目录 | 第132-134页 |
