| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·多相流参数检测 | 第8-11页 |
| ·ECT 技术简述 | 第11-13页 |
| ·本文研究内容 | 第13-14页 |
| ·本文组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 ECT 数理基础及其测量电路 | 第16-28页 |
| ·ECT 数学描述 | 第17-20页 |
| ·ECT 边界条件 | 第17-18页 |
| ·ECT 敏感场 | 第18页 |
| ·ECT 逆问题 | 第18-20页 |
| ·ECT 数据测量 | 第20-21页 |
| ·ECT 传感器 | 第20页 |
| ·ECT 激励测量模式 | 第20-21页 |
| ·“T”型开关组合 | 第21-22页 |
| ·ECT 测量电路 | 第22-28页 |
| ·直流充放电微电容测量法 | 第22-24页 |
| ·交流激励微电容测量法 | 第24-28页 |
| 第三章 ECT 系统硬件电路设计 | 第28-39页 |
| ·ECT 硬件系统发展概况 | 第28页 |
| ·实验室 ECT 硬件系统简介 | 第28-31页 |
| ·基于 FPGA 和 AD5933 的电容层析成像系统 | 第31-39页 |
| ·AD5933 芯片简介 | 第32页 |
| ·AD5933 阻抗测量原理 | 第32-35页 |
| ·AD5933 系统时钟 | 第35-36页 |
| ·控制平台选择 | 第36-37页 |
| ·电容层析成像系统结构 | 第37-39页 |
| 第四章 ECT 系统程序设计 | 第39-50页 |
| ·I~2C 总线设计实现 | 第39-43页 |
| ·I~2C 总线介绍 | 第39-40页 |
| ·AD5933 读写操作 | 第40-41页 |
| ·I~2C IP Core | 第41-43页 |
| ·AD5933 控制流程 | 第43-46页 |
| ·RS232 串口程序设计 | 第46-50页 |
| ·RS232 简介 | 第46-47页 |
| ·FPGA 模块设计 | 第47-50页 |
| 第五章 系统数据处理与实验研究 | 第50-55页 |
| ·AD5933 数据处理 | 第50-51页 |
| ·幅值计算 | 第50页 |
| ·相角计算 | 第50-51页 |
| ·AD5933 性能测试 | 第51-53页 |
| ·ECT 成像实验研究 | 第53-54页 |
| ·系统实时性分析 | 第54-55页 |
| 第六章 总结与建议 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-63页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |