| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-13页 |
| ·IC 业界发展趋势 | 第7页 |
| ·低功耗研究的意义 | 第7-9页 |
| ·低功耗设计方法 | 第9页 |
| ·CMOS 图像传感器的研究现状 | 第9-11页 |
| ·CMOS 图像传感器的发展趋势 | 第11-13页 |
| 第二章 CMOS 图像传感器基本原理 | 第13-25页 |
| ·图像传感器的基本原理 | 第13-18页 |
| ·CMOS 有源像素传感器 | 第18-21页 |
| ·CMOS 数字像素传感器 | 第21-22页 |
| ·CCD 与 CMOS 图像传感器的性能参数的比较 | 第22-23页 |
| ·CMOS 图像传感器的外置结构 | 第23-25页 |
| 第三章 CMOS 传感器性能的主要参数 | 第25-39页 |
| ·CMOS 图像传感器性能的主要参数 | 第25-32页 |
| ·噪声（Noise） | 第25-26页 |
| ·暗电流（DC） | 第26-27页 |
| ·像素的饱和与溢出模糊（Blooming and Cross Talk） | 第27-28页 |
| ·拖尾（Lag） | 第28-29页 |
| ·动态范围（Dynamic Range） | 第29-30页 |
| ·灵敏度（Sensitivity） | 第30-31页 |
| ·解像力测试 SFR (spatial frequency response) | 第31页 |
| ·色彩还原能力测试（Color Fidelity） | 第31-32页 |
| ·室内/室外实际拍摄（Actual shooting） | 第32页 |
| ·芯片测试的流程 | 第32-36页 |
| ·直流测试(DC test) | 第33-34页 |
| ·图像测试（Image test） | 第34-36页 |
| ·终端的测试流程 | 第36-39页 |
| 第四章 CIS 制造良率的因素及改善方法 | 第39-49页 |
| ·FBC 分析失效原因 | 第39-41页 |
| ·利用扫描式电子显微镜 (SEM) 分析失效原因 | 第41-45页 |
| ·利用图像定位（IMAGE）分析失效原因 | 第45-49页 |
| 第五章 针对 CIS 图像传感器的失效数据库 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52页 |
