基于FPGA的自律双机热备系统的研究与设计
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-16页 |
| ·课题研究背景 | 第11-12页 |
| ·CTC中双机热备的应用现状 | 第12-13页 |
| ·CTC双机故障模式与检测 | 第12页 |
| ·双机热备的工作过程 | 第12-13页 |
| ·自律双机热备的应用现状 | 第13页 |
| ·系统的生命周期管理简述 | 第13-14页 |
| ·本文的内容安排与主要工作 | 第14-16页 |
| 2 自律双机热备系统的需求分析 | 第16-24页 |
| ·热备系统的概述 | 第16-18页 |
| ·冗余系统基本介绍 | 第16页 |
| ·冗余中的双机热备系统 | 第16页 |
| ·双机热备的实现方式 | 第16-17页 |
| ·双机热备系统的构成要素 | 第17-18页 |
| ·自律双机系统的结构与功能 | 第18-19页 |
| ·CTC系统的构成简述 | 第18页 |
| ·车站自律分机的功能构成 | 第18-19页 |
| ·双机热备系统的设计需求分析 | 第19-23页 |
| ·STBY单元的功能概述 | 第19页 |
| ·STBY工作原理说明 | 第19-20页 |
| ·STBY功能需求分析 | 第20-23页 |
| ·系统设计的重点与难点 | 第23-24页 |
| 3 双机热备系统的功能实现 | 第24-37页 |
| ·自律热备单元的功能构成 | 第24-25页 |
| ·基于FPGA的系统设计概述 | 第25-27页 |
| ·数字系统EDA设计 | 第25页 |
| ·基于CPLD/FPGA的设计流程 | 第25-26页 |
| ·硬件描述语言HDL | 第26-27页 |
| ·系统核心器件A3P060特性 | 第27页 |
| ·基于FPGA的硬件平台的设计 | 第27-31页 |
| ·电源电路模块 | 第28页 |
| ·时钟与复位电路 | 第28-29页 |
| ·JTAG调试电路 | 第29-30页 |
| ·FPGA器件A3P060电路 | 第30-31页 |
| ·热备系统各个功能部分的设计与仿真 | 第31-37页 |
| ·双机故障检测 | 第31-32页 |
| ·切换控制模块 | 第32-33页 |
| ·外围接口模块的设计 | 第33-35页 |
| ·电路板设计中的注意事项 | 第35-37页 |
| 4 自律双机热备系统的测试与验证 | 第37-52页 |
| ·系统的测试设计概述 | 第37-38页 |
| ·热备系统逻辑测试用例的设计 | 第38-45页 |
| ·系统测试的因果图方法 | 第38页 |
| ·热备切换过程的逻辑分析 | 第38-40页 |
| ·热备系统的因果图 | 第40-41页 |
| ·热备单元的逻辑测试用例 | 第41-45页 |
| ·双机热备系统的逻辑测试 | 第45-48页 |
| ·系统逻辑测试环境 | 第45-46页 |
| ·系统逻辑测试与验证 | 第46-48页 |
| ·双机热备单元的现场应用测试 | 第48-52页 |
| ·热备单元现场测试环境 | 第48-49页 |
| ·现场应用测试与分析 | 第49-50页 |
| ·热备单元应用测试的总结 | 第50-52页 |
| 5 双机热备系统的RAMS评估 | 第52-64页 |
| ·系统RAMS分析概述 | 第52-54页 |
| ·系统可靠性的定义与评估方法 | 第52页 |
| ·可用性与可维修性的定义与分析 | 第52-53页 |
| ·系统安全性的概念与评价体系 | 第53页 |
| ·RAMS评估的相关参考标准 | 第53-54页 |
| ·双机热备系统的可靠性评估 | 第54-62页 |
| ·系统可靠性设计分析 | 第54-55页 |
| ·热备单元的可靠性预计 | 第55-57页 |
| ·可靠性故障树分析法 | 第57-59页 |
| ·热备系统的可靠性故障树分析 | 第59-62页 |
| ·双机热备RAMS评估的总结 | 第62-64页 |
| ·系统可靠性与安全性分析的总结 | 第62页 |
| ·改善系统RAMS性能的措施 | 第62-64页 |
| 6 总结 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录A | 第67-68页 |
| 作者简历 | 第68-70页 |
| 学位论文数据集 | 第70页 |
