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玻璃覆晶封装残余应力及翘曲变形研究

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
目录第6-8页
1 绪论第8-17页
   ·课题来源第8页
   ·课题背景、目的和意义第8-9页
   ·相关技术与国内外研究现状第9-15页
   ·本文主要研究内容第15-17页
2 COG 封装模块残余应力和翘曲分析第17-32页
   ·引言第17页
   ·基于 ACF 的 COG 封装模型第17-20页
   ·COG 封装残余应力分析第20-25页
   ·COG 封装翘曲分析第25-31页
   ·小结第31-32页
3 COG 封装残余应力的数值模拟第32-49页
   ·引言第32页
   ·COG 封装数值模拟方法第32-33页
   ·COG 封装金属导电颗粒模型的建立第33-41页
   ·COG 封装聚合物导电颗粒模型的建立第41-44页
   ·COG 封装残余应力主要影响因素第44-48页
   ·小结第48-49页
4 基于阴影云纹法的翘曲测量实验第49-60页
   ·引言第49页
   ·分析因素选择第49-50页
   ·实验直方表设计第50页
   ·阴影云纹法实验方法第50-56页
   ·实验结果分析第56-58页
   ·COG 封装翘曲变形和残余应力关系第58-59页
   ·COG 封装工艺参数优化策略第59页
   ·小结第59-60页
5 总结与展望第60-62页
   ·全文总结第60页
   ·研究展望第60-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-67页
附录 攻读学位期间发表学术论文目录第67页

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