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FDP FPGA芯片可编程逻辑单元建模与故障测试

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
第一章 引言第6-9页
   ·FPGA概述第6-7页
   ·TurboFault软件概述第7-8页
   ·工作重点第8页
   ·论文组织第8-9页
第二章 FDP FPGA结构简介第9-20页
   ·总体体系结构第9-10页
   ·可编程逻辑单元结构描述第10-14页
   ·FPGA-3芯片内部可编程互连资源概述第14-16页
   ·静态存储块概述第16-18页
   ·可编程输入输出单元概述第18-19页
   ·本章小节第19-20页
第三章 FDP FPGA芯片建模第20-31页
   ·FPGA建模的研究价值和意义第20页
   ·建模方法与策略第20-22页
   ·底层模块建模第22-29页
     ·MOS管模型第22-23页
     ·多路选择器模型第23-24页
     ·静态随机存储器模型第24-25页
     ·查找表存储单元模型第25-26页
     ·可编程寄存器第26-28页
     ·PAD模型第28-29页
   ·上层模块建模第29-30页
   ·本章小节第30-31页
第四章 位流文件的转化和模型仿真第31-41页
   ·配置位流方法第31页
   ·标准位流文件的组成第31-34页
     ·FDP的数据帧第31-33页
     ·FDP的位流文件格式第33-34页
   ·位流文件的转化第34-36页
   ·整体芯片模型仿真第36-40页
   ·本章小节第40-41页
第五章 FDP-3的逻辑资源测试及测试结果第41-68页
   ·FPGA芯片测试概述第41-42页
   ·FDP-3芯片CLB单元测试原理第42-46页
     ·多路选择器测试第43-44页
     ·查找表测试第44-45页
     ·优化测试配置第45-46页
   ·FDP-3测试配制第46-66页
   ·测试结果分析第66-67页
   ·本章小节第67-68页
第六章 总结与展望第68-70页
   ·工作总结第68页
   ·今后工作展望第68-70页
参考文献第70-71页
致谢第71-72页

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