FDP FPGA芯片可编程逻辑单元建模与故障测试
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 引言 | 第6-9页 |
·FPGA概述 | 第6-7页 |
·TurboFault软件概述 | 第7-8页 |
·工作重点 | 第8页 |
·论文组织 | 第8-9页 |
第二章 FDP FPGA结构简介 | 第9-20页 |
·总体体系结构 | 第9-10页 |
·可编程逻辑单元结构描述 | 第10-14页 |
·FPGA-3芯片内部可编程互连资源概述 | 第14-16页 |
·静态存储块概述 | 第16-18页 |
·可编程输入输出单元概述 | 第18-19页 |
·本章小节 | 第19-20页 |
第三章 FDP FPGA芯片建模 | 第20-31页 |
·FPGA建模的研究价值和意义 | 第20页 |
·建模方法与策略 | 第20-22页 |
·底层模块建模 | 第22-29页 |
·MOS管模型 | 第22-23页 |
·多路选择器模型 | 第23-24页 |
·静态随机存储器模型 | 第24-25页 |
·查找表存储单元模型 | 第25-26页 |
·可编程寄存器 | 第26-28页 |
·PAD模型 | 第28-29页 |
·上层模块建模 | 第29-30页 |
·本章小节 | 第30-31页 |
第四章 位流文件的转化和模型仿真 | 第31-41页 |
·配置位流方法 | 第31页 |
·标准位流文件的组成 | 第31-34页 |
·FDP的数据帧 | 第31-33页 |
·FDP的位流文件格式 | 第33-34页 |
·位流文件的转化 | 第34-36页 |
·整体芯片模型仿真 | 第36-40页 |
·本章小节 | 第40-41页 |
第五章 FDP-3的逻辑资源测试及测试结果 | 第41-68页 |
·FPGA芯片测试概述 | 第41-42页 |
·FDP-3芯片CLB单元测试原理 | 第42-46页 |
·多路选择器测试 | 第43-44页 |
·查找表测试 | 第44-45页 |
·优化测试配置 | 第45-46页 |
·FDP-3测试配制 | 第46-66页 |
·测试结果分析 | 第66-67页 |
·本章小节 | 第67-68页 |
第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
·工作总结 | 第68页 |
·今后工作展望 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |