热循环条件下金属膜电阻器的性能退化表征
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-23页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·空间环境 | 第8-9页 |
| ·真空环境 | 第8页 |
| ·热环境 | 第8页 |
| ·带电粒子辐照环境 | 第8-9页 |
| ·金属膜电阻器及其发展概况 | 第9-13页 |
| ·金属膜电阻器 | 第9-11页 |
| ·金属膜电阻器的发展 | 第11-13页 |
| ·电阻器的主要参数 | 第13-16页 |
| ·电阻器常见失效模式与失效机理及分析方法 | 第16-19页 |
| ·电阻器常见失效模式 | 第16页 |
| ·电阻器失效机理分析 | 第16-19页 |
| ·电阻器失效分析方法 | 第19页 |
| ·金属膜电阻器的失效分析 | 第19-21页 |
| ·热循环对金属膜电阻器的影响 | 第21-22页 |
| ·本课题的研究目的和内容 | 第22-23页 |
| 第2章 材料及试验方法 | 第23-30页 |
| ·试验材料 | 第23-24页 |
| ·热循环试验 | 第24-27页 |
| ·热循环试验设备 | 第24-25页 |
| ·热循环试验参数 | 第25-26页 |
| ·金属膜电阻器阻值测量方法 | 第26-27页 |
| ·显微结构分析 | 第27页 |
| ·金属膜电阻器热应力有限元模拟 | 第27-30页 |
| 第3章 热循环对金属膜电阻器阻值影响规律 | 第30-38页 |
| ·热循环过程中温度对电阻值变化率的影响规律 | 第30-31页 |
| ·热循环次数对电阻值变化率的影响规律 | 第31-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 金属膜电阻器结构损伤及有限元分析 | 第38-52页 |
| ·金属膜电阻器封装层失效分析 | 第38-40页 |
| ·金属膜电阻器导电金属膜层成分分析 | 第40-43页 |
| ·金属膜电阻器引线帽处断裂失效分析 | 第43-45页 |
| ·金属膜电阻器断裂样断口分析 | 第45-48页 |
| ·金属膜电阻热应力有限元模拟分析 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
