面向ISO18000-6C标准的UHF RFID无源标签芯片数字集成电路低功耗设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-14页 |
| 第一章 前言 | 第14-20页 |
| ·RFID 技术的研究背景 | 第14-15页 |
| ·国内外RFID 技术的研究现状 | 第15-17页 |
| ·RFID 技术的发展展望 | 第17-18页 |
| ·本论文研究内容 | 第18页 |
| ·论文组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 CMOS 数字电路功耗及分析 | 第20-28页 |
| ·功耗概述 | 第20-21页 |
| ·CMOS 数字电路功耗产生原理 | 第21-25页 |
| ·静态功耗 | 第21-23页 |
| ·动态功耗 | 第23-25页 |
| ·EDA 工具功耗分析方法 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 CMOS 数字电路低功耗设计方法研究 | 第28-36页 |
| ·基于静态功耗优化的低功耗设计 | 第28-30页 |
| ·面积优化 | 第28页 |
| ·多阈值电压技术 | 第28-29页 |
| ·衬底偏置技术 | 第29-30页 |
| ·基于动态功耗优化的低功耗设计 | 第30-35页 |
| ·系统级低功耗设计方法 | 第30-31页 |
| ·RTL 级低功耗设计方法 | 第31-32页 |
| ·门级低功耗设计方法 | 第32-33页 |
| ·版图级低功耗设计方法 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 标签芯片数字前端电路低功耗设计 | 第36-63页 |
| ·系统低功耗设计 | 第37-40页 |
| ·设计方法综述 | 第37-38页 |
| ·架构实现 | 第38-40页 |
| ·解码模块设计 | 第40-44页 |
| ·功能分析 | 第40-41页 |
| ·低功耗设计实现 | 第41-43页 |
| ·仿真结果 | 第43-44页 |
| ·编码器模块设计 | 第44-49页 |
| ·功能分析 | 第44-46页 |
| ·低功耗设计实现 | 第46-48页 |
| ·仿真结果 | 第48-49页 |
| ·输入预处理模块设计 | 第49-51页 |
| ·功能分析 | 第49页 |
| ·低功耗设计实现 | 第49-51页 |
| ·仿真结果 | 第51页 |
| ·循环校验/计算模块设计 | 第51-53页 |
| ·功能分析 | 第51页 |
| ·低功耗设计实现 | 第51-53页 |
| ·仿真结果 | 第53页 |
| ·状态机模块设计 | 第53-62页 |
| ·功能分析 | 第53-59页 |
| ·低功耗设计实现 | 第59-62页 |
| ·仿真结果 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 标签芯片数字后端电路低功耗设计 | 第63-71页 |
| ·低功耗逻辑综合 | 第63-64页 |
| ·版图设计 | 第64-67页 |
| ·版图设计流程 | 第64-65页 |
| ·低功耗设计 | 第65-67页 |
| ·版图后时序验证与物理验证 | 第67-68页 |
| ·系统晶体管级仿真结果及功耗 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 标签芯片测试 | 第71-78页 |
| ·测试技术方案 | 第71-72页 |
| ·测试方法 | 第72-74页 |
| ·测试结果 | 第74-76页 |
| ·测试设备清单 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第七章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 发表论文与科研情况说明 | 第83-84页 |
