PLC模块自动测试系统的设计与开发
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·自动测试系统及PLCATS对比 | 第9-10页 |
| ·自动测试技术的发展阶段 | 第10-11页 |
| ·自动测试系统中存在的问题 | 第11-12页 |
| ·研究背景及其意义 | 第12页 |
| ·本文主要内容 | 第12-14页 |
| 2 PLCATS系统框架和相关技术 | 第14-24页 |
| ·系统设计需求分析 | 第14-17页 |
| ·测试项目及检验规范 | 第14-15页 |
| ·手工测试校准的缺陷 | 第15-16页 |
| ·PLCATS的功能及特点 | 第16-17页 |
| ·PLCATS系统框架体系 | 第17-19页 |
| ·网络拓扑 | 第17-18页 |
| ·体系架构 | 第18-19页 |
| ·PLCATS相关技术 | 第19-23页 |
| ·通讯技术 | 第19-20页 |
| ·SCPI与可程控仪表 | 第20-22页 |
| ·ActiveX控件 | 第22页 |
| ·条形码技术 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3 PLCATS硬件设计与实现 | 第24-38页 |
| ·系统的硬件选择及介绍 | 第24-26页 |
| ·工位划分及系统设备组成 | 第24页 |
| ·测试设备性能参数 | 第24-25页 |
| ·被测模块工作状态简介 | 第25-26页 |
| ·一号工位硬件设计与测试过程 | 第26-31页 |
| ·DIDO测试的硬件设计与测试过程 | 第27-29页 |
| ·LED灯板测试的硬件设计与测试过程 | 第29-31页 |
| ·二、三号工位硬件设计与测试过程 | 第31-34页 |
| ·四号工位硬件设计与测试过程 | 第34-36页 |
| ·抗干扰设计 | 第36-37页 |
| ·干扰因素 | 第36页 |
| ·硬件抗干扰 | 第36页 |
| ·软件抗干扰 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 4 PLCATS软件设计与实现 | 第38-69页 |
| ·系统软件设计框架 | 第38-40页 |
| ·参数配置部分设计 | 第40-41页 |
| ·数据通讯部分设计 | 第41-44页 |
| ·程序测试部分设计 | 第44-64页 |
| ·通讯测试模块设计 | 第44-45页 |
| ·内部参数校准模块设计 | 第45-47页 |
| ·实时时钟测试模块设计 | 第47-48页 |
| ·LED灯板测试模块设计 | 第48-51页 |
| ·DIDO测试模块设计 | 第51-52页 |
| ·AIAO校准模块设计 | 第52-58页 |
| ·冷端校准模块设计 | 第58-61页 |
| ·功能块测试模块设计 | 第61-64页 |
| ·数据库管理部分设计 | 第64-67页 |
| ·PLCATS应用结果分析 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
