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20V N-沟道UMOS的设计及其栅漏电容的优化

摘要第1-7页
Abstract第7-11页
第1章 绪论第11-17页
   ·课题的研究意义第11-13页
   ·POWER MOSFET的发展背景第13-15页
   ·国内外研究现状第15-16页
   ·本文的主要工作与安排第16-17页
第2章 UMOS的重要参数概述第17-26页
   ·UMOS工作原理及参数概述第17-18页
   ·MOSFET的静态参数第18-20页
   ·UMOSFET的动态参数第20-25页
   ·UMOSFET的优值(FOM)第25页
   ·本章小结第25-26页
第3章 20V N-CHANNELUMOS的设计第26-47页
   ·UMOS的仿真设计流程及工艺流程第26-29页
   ·UMOS栅极沟槽深度的调节第29-37页
     ·UMOS的导通电阻模型第29-32页
     ·UMOS栅极沟槽深度的仿真分析第32-37页
   ·沟槽式接触孔与UMOS性能的关系第37-45页
   ·本章小结第45-47页
第4章 UMOS栅漏电容的优化第47-59页
   ·UMOS栅漏电容的优化方式第47-49页
   ·沟槽底部栅氧化层厚度对UMOS性能的影响第49-56页
   ·20V N-CHANNEL UMOS栅漏电容的优化第56-58页
   ·本章小结第58-59页
结论与未来的工作第59-60页
致谢第60-61页
参考文献第61-65页
攻读硕士学位期间发表的论文第65页

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