基于主元分析的多故障状态监测与诊断方法研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-21页 |
1.1 故障诊断研究的起源及方法分类 | 第11-16页 |
1.1.1 故障诊断研究的起源 | 第11页 |
1.1.2 故障诊断的过程及方法分类 | 第11-16页 |
1.2 多故障诊断的研究背景、意义及现状 | 第16-18页 |
1.2.1 多故障诊断的研究背景及意义 | 第16-17页 |
1.2.2 多故障性质 | 第17页 |
1.2.3 多故障诊断方法的研究进展 | 第17-18页 |
1.3 本文主要工作 | 第18-21页 |
第2章 基于主元分析的故障状态监测与诊断方法 | 第21-37页 |
2.1 主元分析方法概述 | 第21-24页 |
2.1.1 数据预处理 | 第22页 |
2.1.2 主元分析介绍 | 第22-24页 |
2.1.3 主元分析方法几何意义 | 第24页 |
2.2 主元分析方法的基本理论 | 第24-29页 |
2.2.1 主元分解方法 | 第24-25页 |
2.2.2 主元分析算法 | 第25-27页 |
2.2.3 主元分析个数确定方法 | 第27-29页 |
2.3 基于主元分析方法的系统状态监测 | 第29-32页 |
2.3.1 统计量T~2及其阈值 | 第29-31页 |
2.3.2 统计量SPE及其阈值 | 第31-32页 |
2.4 基于主元分析的故障辩识方法 | 第32-34页 |
2.4.1 贡献图法 | 第32-33页 |
2.4.2 特征方向法 | 第33页 |
2.4.3 基于统计距离的方法 | 第33-34页 |
2.4.4 基于角度的方法 | 第34页 |
2.5 基于主元分析的状态监测和故障诊断方法步骤 | 第34-35页 |
2.6 本章小结 | 第35-37页 |
第3章 基于核主元分析的多故障状态监测方法研究 | 第37-53页 |
3.1 核主元分析概述 | 第37-39页 |
3.2 核主元分析算法 | 第39-42页 |
3.2.1 核方法原理 | 第39页 |
3.2.2 核主元分析方法原理 | 第39-41页 |
3.2.3 核函数选取方法 | 第41页 |
3.2.4 核主元分析算法执行步骤 | 第41-42页 |
3.3 基于核主元分析的多故障状态监测方法 | 第42-43页 |
3.3.1 T~2统计量 | 第42页 |
3.3.2 SPE统计量 | 第42-43页 |
3.3.3 基于核主元分析的多故障状态监测流程 | 第43页 |
3.4 基于田纳西-伊斯曼过程的仿真研究 | 第43-51页 |
3.4.1 TE工艺流程 | 第44-45页 |
3.4.2 TE变量和过程故障 | 第45-48页 |
3.4.3 仿真研究 | 第48-51页 |
3.5 本章小结 | 第51-53页 |
第4章 基于核主元贡献图法的多故障诊断方法研究 | 第53-63页 |
4.1 PCA贡献图法 | 第53-54页 |
4.2 基于KPCA贡献图法的多故障诊断方法 | 第54-57页 |
4.2.1 KPCA贡献图法 | 第54-56页 |
4.2.2 基于KPCA贡献图的多故障诊断方法 | 第56-57页 |
4.3 仿真研究 | 第57-62页 |
4.3.1 仿真系统描述 | 第57-59页 |
4.3.2 仿真结果分析 | 第59-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
第5章 总结与展望 | 第63-65页 |
5.1 总结 | 第63-64页 |
5.2 展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
致谢 | 第69页 |