中文摘要 | 第4-7页 |
Abstract | 第7-10页 |
第1章 绪论 | 第14-24页 |
1.1 纳米材料的研究背景 | 第14-16页 |
1.2 纳米二氧化硅的研究进展 | 第16-19页 |
1.2.1 纳米二氧化硅的应用 | 第16-18页 |
1.2.2 纳米二氧化硅的生物安全性 | 第18-19页 |
1.3 纳米材料神经毒性的研究意义 | 第19-22页 |
1.4 线粒体通路细胞凋亡 | 第22-24页 |
第2章 材料与方法 | 第24-32页 |
2.1 主要仪器与试剂 | 第24-26页 |
2.1.1 主要试剂 | 第24-25页 |
2.1.2 主要仪器 | 第25-26页 |
2.2 纳米二氧化硅颗粒的制备与表征 | 第26页 |
2.2.1 纳米二氧化硅颗粒的制备 | 第26页 |
2.2.2 TEM 检测纳米二氧化硅颗粒的粒径及形貌 | 第26页 |
2.2.3 Zeta 电位粒度分析仪测定纳米二氧化硅颗粒的稳定性 | 第26页 |
2.3 细胞培养 | 第26-27页 |
2.3.1 细胞株 | 第26页 |
2.3.2 液体配制 | 第26-27页 |
2.3.3 细胞培养及剂量分组 | 第27页 |
2.4 MTT 法检测细胞存活率 | 第27页 |
2.5 细胞形态学改变的检测 | 第27-28页 |
2.6 细胞膜完整性的检测 | 第28页 |
2.7 细胞内 Ca~(2+)的检测 | 第28页 |
2.8 细胞内活性氧的检测 | 第28页 |
2.9 细胞线粒体膜电位的检测 | 第28-29页 |
2.10 细胞周期的检测 | 第29页 |
2.11 细胞凋亡的测定 | 第29-30页 |
2.11.1 FCM 检测细胞凋亡率 | 第29页 |
2.11.2 AO/EB 染色检测细胞凋亡 | 第29-30页 |
2.12 免疫印迹法(Western-blot)检测凋亡相关蛋白 | 第30-31页 |
2.13 统计学分析 | 第31-32页 |
第3章 实验结果 | 第32-44页 |
3.1 纳米二氧化硅颗粒的表征及分散稳定性 | 第32-33页 |
3.2 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞存活率的影响 | 第33页 |
3.3 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞形态的影响 | 第33-34页 |
3.4 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞膜完整性的影响 | 第34-35页 |
3.5 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞 Ca2+的影响 | 第35-36页 |
3.6 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞内 ROS 的影响 | 第36-37页 |
3.7 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞线粒体膜电位的影响 | 第37-38页 |
3.8 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞周期进程的影响 | 第38-40页 |
3.9 纳米 SiO_2对 SH-SY5Y 细胞凋亡率影响 | 第40-42页 |
3.10 细胞凋亡相关蛋白的变化 | 第42-44页 |
第4章 讨论 | 第44-50页 |
4.1 纳米二氧化硅的表征与稳定性 | 第44-45页 |
4.2 纳米二氧化硅对 SH-SY5Y 细胞的毒性作用 | 第45-47页 |
4.3 纳米二氧化硅颗粒的致 SH-SY5Y 细胞凋亡作用及其相关机制 | 第47-50页 |
第5章 结论 | 第50-51页 |
创新点 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-61页 |
作者简介及攻读硕士期间取得的学术成果 | 第61-62页 |
致谢 | 第62页 |