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基于新型微纳结构的柔性压力传感器基础研究

摘要第3-5页
Abstract第5-6页
第1章 引言第10-31页
    1.1 柔性电子器件的发展以及研究意义第10-19页
        1.1.1 采用传统无机半导体材料的柔性电子器件第11-15页
        1.1.2 采用柔性材料的柔性电子器件第15-17页
        1.1.3 柔性电子器件的应用第17-19页
    1.2 柔性压力传感器的研究现状第19-28页
        1.2.1 基于有机以及纳米材料的柔性压力传感器研究现状第20-25页
        1.2.2 基于无机半导体材料的柔性压力传感器研究现状第25-27页
        1.2.3 现有研究所存在的问题第27-28页
    1.3 论文的研究目标与研究内容第28-31页
        1.3.1 论文研究目标与意义第28-29页
        1.3.2 研究目标,研究内容与结构安排第29-31页
第2章 基于新型微纳结构的柔性压力传感器的理论研究第31-54页
    2.1 三种不同工作机理的理论探索和比较分析第31-34页
    2.2 基于高斯随机分布表面微结构和接触压阻复合型机理的柔性压力传感器第34-37页
    2.3 九种不同的表面形貌的模型建立第37-39页
    2.4 柔性压力传感器数值分析流程第39-43页
        2.4.1 九种不同的表面形貌的高度分布函数的提取第40-41页
        2.4.2 电容型柔性压力传感器的工作机理及模型建立第41-42页
        2.4.3 接触型柔性压力传感器的工作机理及模型建立第42页
        2.4.4 接触及压阻复合型压力传感器的工作机理及模型建立第42-43页
    2.5 数值仿真分析的结果以及分析第43-52页
        2.5.1 不同表面形貌对器件力学性能的影响第43-44页
        2.5.2 表面形貌以及工作机理对器件整体响应以及线性度的影响第44-46页
        2.5.3 表面形貌以及工作机理对器件响应灵敏度的影响第46-48页
        2.5.4 表面形貌以及工作机理对器件重复性可靠性的影响第48-52页
    2.6 本章小结第52-54页
第3章 基于有机聚合物纳米复合材料和新型微纳结构的柔性压力传感器第54-99页
    3.1 压阻柔性纳米复合材料的制备第54-56页
    3.2 柔性压力传感器的结构设计以及制作封装工艺第56-59页
    3.3 高灵敏度宽线性范围柔性压力传感器的测试和表征第59-79页
        3.3.1 针对器件的测试要求进行测试平台的搭建及器件读出电路的确定第59-64页
        3.3.2 柔性压力传感器微观结构的观测和表征第64-67页
        3.3.3 柔性压力传感器的循环响应及灵敏度测试第67-70页
        3.3.4 柔性压力传感器的重复性测试第70-72页
        3.3.5 柔性压力传感器的频率响应特性第72-73页
        3.3.6 柔性压力传感器的瞬态响应特性第73-74页
        3.3.7 柔性压力传感器的回滞特性第74-75页
        3.3.8 柔性压力传感器的温度特性第75-76页
        3.3.9 柔性压力传感器对风载,压力,弯曲和扭曲的响应特性第76-78页
        3.3.10 本工作中器件的灵敏度和线性响应范围与其他工作的对比第78-79页
    3.4 基于柔性压力传感器的柔性腕带式心率计研究第79-87页
        3.4.1 柔性腕带式心率计的应用优势及需要解决的问题第79-83页
        3.4.2 柔性腕带式心率计的器件制作及封装工艺第83页
        3.4.3 柔性腕带式心率计的抗干扰读出电路以及计数电路第83-85页
        3.4.4 柔性腕带式心率计的测试第85-87页
    3.5 基于柔性压力传感器的流体动力学测量研究第87-96页
        3.5.1 基于微纳结构的柔性器件用于流体动力学传感器的可行性以及有待解决的问题第87-90页
        3.5.2 柔性流体动力学传感器的制作及封装工艺第90-91页
        3.5.3 柔性流体动力学传感器的水下测试及相关仿真分析第91-96页
    3.6 本章小结第96-99页
第4章 基于硅基半导体材料的新型柔性压力传感器第99-131页
    4.1 硅基半导体材料的耐高温柔性压力传感器阵列的结构设计第99-101页
    4.2 基于硅基半导体材料的耐高温柔性压力传感器的仿真分析第101-103页
    4.3 硅基柔性压力传感器阵列的曲面牺牲层工艺实现第103-116页
        4.3.1 灰度光刻技术原理第105-106页
        4.3.2 灰度光刻工艺参数标定试验第106-111页
        4.3.3 灰度光刻工艺数值仿真分析第111-113页
        4.3.4 灰度光刻工艺版图设计第113-116页
        4.3.5 度光刻工艺实现曲面牺牲层的曝光以及显影工艺第116页
    4.4 硅基柔性压力传感器阵列的曲面结构层淀积及图形化刻蚀工艺第116-120页
        4.4.1 曲面结构层低温PECVD沉积工艺第116-117页
        4.4.2 具有2微米高差的曲面结构衬底上的光刻以及刻蚀工艺第117-120页
    4.5 牺牲层释放工艺第120-123页
    4.6 背硅减薄柔性化工艺第123-124页
    4.7 器件测试第124-129页
        4.7.1 单器件压力传感性能测试第124-128页
        4.7.2 传感器阵列耐高温性能测试第128-129页
    4.8 本章小结第129-131页
第5章 结论第131-135页
    5.1 论文的主要研究成果第131-132页
    5.2 论文创新点第132-133页
    5.3 未来工作展望第133-135页
参考文献第135-142页
致谢第142-144页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果第144页

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