| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 选题的背景和意义 | 第16-18页 |
| 1.2 开关芯片的现状及发展趋势 | 第18-20页 |
| 1.3 论文的章节安排 | 第20-22页 |
| 第二章 线性开关的基本理论及XD3500的系统设计 | 第22-34页 |
| 2.1 传统线性开关的几种基本结构 | 第22-25页 |
| 2.1.1 低端线性开关 | 第22-23页 |
| 2.1.2 高端线性开关 | 第23-25页 |
| 2.2 XD3500的整体设计要求 | 第25-31页 |
| 2.2.1 应用领域 | 第25页 |
| 2.2.2 主要功能 | 第25-26页 |
| 2.2.3 芯片的管脚定义及封装 | 第26页 |
| 2.2.4 XD3500的电特性指标 | 第26-29页 |
| 2.2.5 系统框图描述及功能 | 第29-31页 |
| 2.3 XD3500的ESD保护 | 第31-33页 |
| 2.4 XD3500的电感电容选择 | 第33-34页 |
| 第三章 XD3500的子电路设计与仿真 | 第34-56页 |
| 3.1 基准模块 | 第34-41页 |
| 3.1.1 功能描述 | 第34页 |
| 3.1.2 管脚说明 | 第34-35页 |
| 3.1.3 带隙基准模块的电路设计与仿真 | 第35-39页 |
| 3.1.4 仿真验证 | 第39-41页 |
| 3.2 EN使能模块 | 第41-43页 |
| 3.2.1 功能描述 | 第41页 |
| 3.2.2 管脚说明 | 第41-42页 |
| 3.2.3 使能模块的电路设计 | 第42页 |
| 3.2.4 仿真验证 | 第42-43页 |
| 3.3 UVLO模块 | 第43-45页 |
| 3.3.1 功能描述 | 第43页 |
| 3.3.2 管脚说明 | 第43-44页 |
| 3.3.3 欠压模块的电路设计 | 第44-45页 |
| 3.3.4 仿真验证 | 第45页 |
| 3.4 BIAS和衬底选择模块 | 第45-50页 |
| 3.4.1 功能描述 | 第45-46页 |
| 3.4.2 管脚说明 | 第46页 |
| 3.4.3 模块电路设计 | 第46-49页 |
| 3.4.4 仿真验证 | 第49-50页 |
| 3.5 电流采样与限流模块 | 第50-54页 |
| 3.5.1 功能描述 | 第50页 |
| 3.5.2 管脚说明 | 第50-51页 |
| 3.5.3 电流采样与限流模块的电路设计 | 第51-53页 |
| 3.5.4 仿真验证 | 第53-54页 |
| 3.6 测试模块与快速限流 | 第54-56页 |
| 第四章 XD3500的整体仿真验证 | 第56-64页 |
| 4.1 芯片的电气特性验证 | 第56-58页 |
| 4.2 芯片的整体功能验证 | 第58-64页 |
| 第五章 XD3500的制造工艺与版图设计 | 第64-68页 |
| 5.1 XD3500制造工艺的选择 | 第64-65页 |
| 5.2 XD3500的版图设计 | 第65-68页 |
| 5.2.1 版图设计规则 | 第65-66页 |
| 5.2.2 版图匹配性设计 | 第66-67页 |
| 5.2.3 XD3500的整体版图设计 | 第67-68页 |
| 第六章 XD3500的测试结果分析 | 第68-76页 |
| 6.1 XD3500的电气特性测试 | 第68-70页 |
| 6.1.1 XD3500的重要电特性参数测试 | 第68-69页 |
| 6.1.2 XD3500的线性测试 | 第69-70页 |
| 6.2 XD3500工作波形测试 | 第70-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 作者简介 | 第84-85页 |