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基于FPGA的弹载存储测试系统研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究背景和意义第10-11页
    1.2 研究现状第11-13页
        1.2.1 国外研究现状第11-12页
        1.2.2 国内研究现状第12-13页
        1.2.3 发展趋势第13页
    1.3 本文研究内容和章节安排第13-15页
第二章 设计原则和总体方案第15-22页
    2.1 测试信号特点第15页
    2.2 主要技术指标第15-16页
    2.3 系统设计原则第16-18页
    2.4 系统总体设计方案第18-21页
        2.4.1 系统整体结构第18-20页
        2.4.2 系统工作状态第20-21页
    2.5 本章小结第21-22页
第三章 硬件设计第22-41页
    3.1 电源管理模块第22-24页
    3.2 信号调理电路第24-26页
        3.2.1 电荷放大电路第25-26页
        3.2.2 低通滤波电路第26页
    3.3 模数转换控制器第26-28页
    3.4 采样触发电路第28-29页
    3.5 主控模块第29-34页
        3.5.1 ARM芯片第29-32页
        3.5.2 FPGA芯片第32-34页
    3.6 存储模块第34-37页
        3.6.1 存储介质的选择第35-37页
        3.6.2 存储模块的电路设计第37页
    3.7 数据通信接口第37-40页
    3.8 本章小结第40-41页
第四章 软件设计第41-61页
    4.1 系统总体软件设计第41-42页
    4.2 数据处理模块程序设计第42-51页
        4.2.1 数据编帧第42-44页
        4.2.2 数据压缩第44-48页
        4.2.3 数据加密第48-51页
    4.3 数据存储模块程序设计第51-55页
        4.3.1 FLASH流水线写入第51-53页
        4.3.2 FLASH无效块管理第53-55页
    4.4 数据通信模块程序设计第55-60页
        4.4.1 下位机部分第55-58页
        4.4.2 上位机部分第58-59页
        4.4.3 上下位机之间的握手机制第59-60页
    4.5 本章小结第60-61页
第五章 系统测试与分析第61-65页
    5.1 测试步骤第61-62页
    5.2 测试结果与分析第62-65页
        5.2.1 通道一致性测试第62-63页
        5.2.2 系统精度测试第63页
        5.2.3 整体功能测试第63-65页
第六章 结论与展望第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-71页

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