首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--自动化技术及设备论文--自动化元件、部件论文--发送器(变换器)、传感器论文

低照度CMOS图像传感器综合性能测试系统研制

摘要第3-4页
Abstract第4页
1 绪论第7-11页
    1.1 低照度CMOS图像传感器的发展与研究现状第7-8页
    1.2 低照度CMOS图像传感器测试技术介绍与研究现状第8-9页
    1.3 研究背景及意义第9-10页
    1.4 本文的主要工作第10-11页
2 低照度CMOS图像传感器性能评价方法研究第11-16页
    2.1 CMOS的结构和工作原理第11-13页
        2.1.1 CMOS图像传感器的组成第11页
        2.1.2 CMOS图像传感器工作原理第11-12页
        2.1.3 低照度CMOS定义及技术要素第12-13页
    2.2 CMOS性能评价方法研究第13-15页
        2.2.1 缺陷像元第13页
        2.2.2 非均匀性第13页
        2.2.3 信噪比第13-14页
        2.2.4 满阱电荷第14页
        2.2.5 动态范围第14-15页
        2.2.6 暗电流第15页
        2.2.7 光谱响应第15页
    2.3 本章小结第15-16页
3 低照度CMOS图像和噪声特性测试系统研制第16-29页
    3.1 系统测试总体设计第16-18页
    3.2 测试系统硬件设计第18-21页
        3.2.1 大动态范围积分球均匀光源系统第18-20页
        3.2.2 测试暗箱第20-21页
    3.3 宽动态范围辐射/照度计的实时检测及校准第21-25页
    3.4 图像和噪声特性测试软件第25-28页
        3.4.1 软件设计总体框架第25页
        3.4.2 视频显示模块第25-26页
        3.4.3 技术指标测试模块第26-28页
    3.5 本章小结第28-29页
4 低照度CMOS光谱响应测试系统研制第29-38页
    4.1 系统测试总体设计第29-30页
    4.2 光功率实时检测及校准第30-34页
    4.3 光谱响应测试软件第34-37页
        4.3.1 软件设计总体框架第34-35页
        4.3.2 视频显示模块第35页
        4.3.3 测试控制模块第35-37页
    4.4 本章小结第37-38页
5 低照度CMOS性能参数测试与实验结果分析第38-57页
    5.1 待测低照度CMOS芯片第38-39页
    5.2 低照度CMOS图像与噪声特性测试第39-51页
        5.2.1 大动态范围积分球光源系统面均匀性测试第39-41页
        5.2.2 图像和噪声特性参数测试及结果分析第41-51页
    5.3 低照度CMOS光谱响应测试第51-56页
        5.3.1 光源系统面均匀性测试第51-53页
        5.3.2 光谱响应量子效率测试及结果分析第53-56页
    5.4 本章小结第56-57页
6 结束语第57-59页
    6.1 论文工作总结第57-58页
    6.2 有待完善的工作第58-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-63页
附录第63页

论文共63页,点击 下载论文
上一篇:基于立体相位展开的结构光实时三维测量及重构技术研究
下一篇:MIMO引信射频电路设计