抗PVT变化的自适应电源电压调整电路设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·CMOS 电路的功耗来源 | 第9-11页 |
| ·功耗分类 | 第9-10页 |
| ·漏电组成 | 第10-11页 |
| ·静态低功耗技术 | 第11-14页 |
| ·静态低功耗技术简述 | 第11-13页 |
| ·电源电压调整技术 | 第13-14页 |
| ·自适应电源电压技术研究现状 | 第14-17页 |
| ·本文主要研究内容及结构 | 第17-18页 |
| 第2章 PVT 波动和待机电源电压的确定 | 第18-27页 |
| ·PVT 波动来源 | 第18-20页 |
| ·工艺波动的来源 | 第18-19页 |
| ·电压波动的来源 | 第19页 |
| ·温度波动的来源 | 第19-20页 |
| ·PVT 波动对集成电路的影响 | 第20-23页 |
| ·PVT 波动对设计参数的影响 | 第20页 |
| ·PVT 波动对电路性能的影响 | 第20-21页 |
| ·PVT 波动对电路稳定性的影响 | 第21-22页 |
| ·PVT 波动对电路漏电功耗的影响 | 第22-23页 |
| ·最佳待机电源电压的确定 | 第23-26页 |
| ·待机电源电压的确定 | 第23-24页 |
| ·SNM 的获取 | 第24-25页 |
| ·DRV 的获取 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 自适应电源电压调整电路设计 | 第27-45页 |
| ·自适应电源电压调整电路的整体结构 | 第27-28页 |
| ·抗PVT 波动的检测模块设计 | 第28-36页 |
| ·抗工艺电压波动的温度检测电路 | 第28-31页 |
| ·抗电压温度波动的工艺检测电路 | 第31-36页 |
| ·信号处理模块设计 | 第36-44页 |
| ·AD 转换器 | 第36-39页 |
| ·查找表电路 | 第39-41页 |
| ·待机电源电压调制电路 | 第41-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 整体电路仿真 | 第45-53页 |
| ·自适应电源电压系统仿真框图 | 第45-46页 |
| ·自适应电源电压系统在不同工艺温度的仿真结果 | 第46-50页 |
| ·自适应电源电压系统在常温的仿真结果 | 第46-48页 |
| ·自适应电源电压系统在TT 工艺时的仿真结果 | 第48-50页 |
| ·Benchmark 电路漏电功耗的仿真 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
