带微处理器数字电路的故障测试研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| ·课题的来源及背景 | 第9-10页 |
| ·电路测试的概述 | 第10-13页 |
| ·模拟电路测试 | 第10-11页 |
| ·数字电路测试 | 第11页 |
| ·带微处理器数字电路测试 | 第11-13页 |
| ·国内外带微处理器电路测试研究的现状 | 第13-17页 |
| ·本文主要的研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 带微处理器数字电路测试系统 | 第19-28页 |
| ·测试原理 | 第19-20页 |
| ·测试系统功能组成与指标 | 第20-22页 |
| ·复杂集成电路在线测试仪 | 第20-21页 |
| ·带微处理器电路测试系统 | 第21页 |
| ·主要技术指标 | 第21-22页 |
| ·总线仿真测试子系统 | 第22-25页 |
| ·总线仿真器的工作原理 | 第22-24页 |
| ·总线仿真器测试软件平台 | 第24-25页 |
| ·基于边界扫描的总线测试子系统 | 第25-27页 |
| ·总线测试原理 | 第25页 |
| ·边界扫描数据加载电路原理 | 第25-27页 |
| ·基于边界扫描的总线测试诊断软件 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 带微处理器电路的故障类型 | 第28-32页 |
| ·总线故障类型 | 第28-29页 |
| ·存储器故障类型 | 第29-30页 |
| ·存储器的分类 | 第29页 |
| ·存储器故障类型 | 第29-30页 |
| ·I/O的故障类型 | 第30-31页 |
| ·处理器故障 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 带微处理器电路的测试方法 | 第32-44页 |
| ·总线测试方法 | 第32-36页 |
| ·图形测试 | 第32-33页 |
| ·基于JTAG的总线测试电路 | 第33-36页 |
| ·只读存储器测试原理和测试方法 | 第36-37页 |
| ·随机存储器的测试方法 | 第37-43页 |
| ·随机存储器的测试算法 | 第38-41页 |
| ·随机存储器内建自测试技术 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第5章 测试方法的实现 | 第44-52页 |
| ·总线测试 | 第44页 |
| ·对只读存储器的测试 | 第44-48页 |
| ·对随机存储器的测试 | 第48-51页 |
| ·仿真技术简介 | 第48-49页 |
| ·程序实现及仿真 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 总结与展望 | 第52-53页 |
| ·全文总结 | 第52页 |
| ·工作展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 附录#@@页 |
