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高精度低功耗CMOS温度传感器的设计

摘要第1-6页
Abstract第6-7页
目录第7-10页
第一章 绪论第10-16页
   ·研究背景和意义第10-12页
   ·CMOS 温度传感器的性能指标第12页
   ·本文的主要工作第12-16页
     ·设计中的主要难点和挑战第13页
     ·本论文的主要组织结构第13-16页
第二章 CMOS工艺下的双极型晶体管的温度特性第16-34页
   ·CMOS 工艺下的双极型晶体管的实现第16-17页
   ·CMOS 工艺下的双极型晶体管的 I-V 特性第17-19页
     ·符号说明第17-18页
     ·IC-VBE特性第18页
     ·IE-VBE特性第18-19页
   ·CMOS 工艺下的双极型晶体管的固有的温度特性第19-27页
     ·VBE的温度特性第20-21页
     ·ΔVBE的温度特性第21-23页
     ·有限的电流增益βF对 VBE的影响第23-24页
     ·偏置电流中偏置电阻的温度特性的对 VBE的影响第24-25页
     ·厄立电压效应对 VBE的影响第25-27页
     ·串联欧姆电阻引起的ΔVBE的偏差第27页
   ·CMOS 工艺下的双极型晶体管的随机的温度特性第27-31页
     ·饱和电流的工艺偏差的影响第28页
     ·偏置电阻的工艺偏差的影响第28-29页
     ·有限电流增益的工艺偏差的影响第29页
     ·负向厄立电压效应的工艺偏差的影响第29-31页
     ·电流镜的失配引起的ΔVBE的误差第31页
   ·小结第31-34页
第三章 温度传感器中非理想因素的消除第34-48页
   ·斩波稳零技术第34-37页
     ·斩波稳零技术的基本原理第35-36页
     ·斩波运放的残余失调电压第36-37页
   ·动态匹配技术第37-38页
   ·二阶曲率补偿技术第38-40页
   ·trimming 技术第40-45页
     ·电压域的 trimming 技术第41-42页
     ·电流域的 trimming 技术第42-43页
     ·基于调制器的 trimming 技术第43-44页
     ·数字 trimming 技术第44-45页
   ·有限电流增益βF造成的误差的消除第45-46页
   ·小结第46-48页
第四章 CMOS温度传感器的系统级设计第48-60页
   ·CMOS 温度传感器架构的选取第48-53页
     ·常见的 CMOS 温度传感器架构一第48-50页
     ·常见的 CMOS 温度传感器架构二第50-51页
     ·本文所采用的温度传感器架构第51-53页
   ·CMOS 温度传感器中 ADC 的选取第53-57页
     ·直接转换 ADC 对比间接转换 ADC第53-54页
     ·同步调制器对比异步调制器第54-56页
     ·本文所采用的 ADC第56-57页
   ·CMOS 温度传感器中的误差分配第57-58页
   ·小结第58-60页
第五章 CMOS温度传感器中的关键电路的设计第60-78页
   ·ADC 模块的设计与仿真第60-68页
     ·ΣΔADC 的位数的选取以及抽样滤波器的设计第61-63页
     ·积分器的设计第63-64页
     ·比较器的设计第64-66页
     ·为运放和比较器提供偏置的电路的设计第66-67页
     ·ΣΔADC 中的 R2/R1的比例的选取第67-68页
   ·PTAT 电流偏置电路的设计第68-71页
   ·PTAT 电流产生电路的设计第71-73页
   ·CTAT 电流产生电路第73-74页
   ·trimming 电路的设计第74-76页
     ·trimming 电阻的电阻类型的选择第74-75页
     ·trimming 电路中可编程电阻的电阻值的设计第75-76页
   ·小结第76-78页
第六章 温度传感器整体电路设计、仿真与校准第78-88页
   ·整体电路的架构和时序第78-80页
   ·温度传感器的校准第80-83页
   ·温度传感器的整体电路的仿真第83-86页
     ·温度传感器的精度仿真第83-85页
     ·温度传感器的功耗仿真第85-86页
   ·本文的温度传感器性能指标小结第86-88页
第七章 总结与展望第88-90页
   ·论文总结第88-89页
   ·展望第89-90页
致谢第90-92页
参考文献第92-95页

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