液晶模块的寿命试验和可靠性增长试验
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 液晶模块介绍 | 第9-28页 |
| ·液晶模块的主要技术指标 | 第9-11页 |
| ·液晶模块结构 | 第11-14页 |
| ·铁框 | 第11页 |
| ·液晶屏 | 第11-13页 |
| ·背光源 | 第13-14页 |
| ·液晶模块的主要材料介绍 | 第14-19页 |
| ·彩膜介绍 | 第14-15页 |
| ·偏光板介绍 | 第15页 |
| ·灯管介绍 | 第15-16页 |
| ·各层膜片介绍 | 第16-18页 |
| ·COF 介绍 | 第18页 |
| ·信号处理基板 | 第18-19页 |
| ·TFT-LCD 工艺介绍 | 第19-27页 |
| ·阵列工程工艺介绍 | 第19-21页 |
| ·成盒工程工艺介绍 | 第21-23页 |
| ·模块工程工艺介绍 | 第23-27页 |
| ·本人的工作 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第二章 高温寿命试验 | 第28-46页 |
| ·试验介绍 | 第28-34页 |
| ·寿命试验数据的特点 | 第28-29页 |
| ·试验条件设定 | 第29-30页 |
| ·失效判定 | 第30页 |
| ·威布尔函数介绍及其参数计算方法 | 第30-33页 |
| ·加速因子计算方法 | 第33-34页 |
| ·试验结果 | 第34-35页 |
| ·威布尔分布三参数的分析和计算 | 第35-45页 |
| ·用威布尔概率纸计算 | 第35-39页 |
| ·用 weibull++7 软件来计算 | 第39-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 HALT 试验及结果 | 第46-67页 |
| ·HALT 试验介绍 | 第46-53页 |
| ·使用术语 | 第47-48页 |
| ·HALT 试验前的准备工作 | 第48-49页 |
| ·HALT 试验设备 | 第49-50页 |
| ·试验样品准备 | 第50页 |
| ·HALT 试验方法 | 第50-53页 |
| ·设计试验夹具 | 第53-55页 |
| ·确定试验条件，介绍试验结果及改进情况 | 第55-66页 |
| ·温度步进应力试验 | 第55-58页 |
| ·振动步进应力试验 | 第58-59页 |
| ·快速温变应力试验 | 第59-62页 |
| ·温度和振动组合试验 | 第62-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第四章 全文总结 | 第67-68页 |
| ·主要结论 | 第67页 |
| ·研究展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第70-72页 |
