| 第一章 绪论 | 第1-23页 |
| ·集成电路(IC)测试 | 第13-16页 |
| ·故障模型 | 第13-16页 |
| ·故障测试质量评价 | 第16页 |
| ·SoC测试 | 第16-21页 |
| ·SoC测试背景 | 第16-18页 |
| ·SoC测试现状 | 第18-21页 |
| ·课题目的和意义 | 第21页 |
| ·本文研究工作和组织内容 | 第21-23页 |
| 第二章 SoC测试方法 | 第23-38页 |
| ·测试技术 | 第23-28页 |
| ·数字逻辑核测试 | 第23-25页 |
| ·嵌入式存储器测试 | 第25页 |
| ·模拟／混合电路核测试 | 第25-26页 |
| ·处理器核测试 | 第26-27页 |
| ·Iddq测试 | 第27-28页 |
| ·目前主要的测试数据压缩方案 | 第28-38页 |
| ·基于LFSR重播种的方案 | 第28-30页 |
| ·基于编码的方案 | 第30-33页 |
| ·基于折叠计数器的方案 | 第33-35页 |
| ·基于字典的方案 | 第35-36页 |
| ·其它方案 | 第36-38页 |
| 第三章 针对多扫描链的两维测试数据压缩方法 | 第38-45页 |
| ·两维测试数据压缩算法描述 | 第38-42页 |
| ·纵向压缩 | 第39-40页 |
| ·横向压缩 | 第40-42页 |
| ·解压结构 | 第42-43页 |
| ·实验结果 | 第43-45页 |
| 第四章 针对多扫描链的逆向折叠测试数据压缩方法 | 第45-54页 |
| ·相关知识 | 第45-47页 |
| ·逆向折叠测试数据压缩算法描述 | 第47-52页 |
| ·原始方案 | 第48-49页 |
| ·跳转方案 | 第49-52页 |
| ·实验结果 | 第52-54页 |
| 第五章 测试数据压缩方案的实现与比较 | 第54-61页 |
| ·两维测试数据压缩方法 | 第54-57页 |
| ·测试模式格式转换(patternfmat) | 第54页 |
| ·相容压缩(rowcompalg) | 第54-56页 |
| ·测试模式优化排序(patternsort) | 第56页 |
| ·首模式确定化(firstpattern) | 第56页 |
| ·生成字典，记录距离值和索引值(position_dic) | 第56-57页 |
| ·逆向折叠测试数据压缩方法 | 第57-59页 |
| ·测试模式转换(patternfmat) | 第57页 |
| ·相容压缩(rowcompalg) | 第57页 |
| ·记录模式间跳转的次数(folding_relation) | 第57页 |
| ·寻找最近测试模式(folding_finding) | 第57-59页 |
| ·测试模式半确定化(folding_determine) | 第59页 |
| ·首模式确定化(folding_determine_first) | 第59页 |
| ·实验结果比较 | 第59-61页 |
| 第六章 结束语 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 研究生期间撰写的论文 | 第68页 |
