半导体自动测试系统的故障诊断
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·课题的来源和意义 | 第8页 |
| ·故障诊断的国内外发展状况 | 第8-9页 |
| ·课题内容 | 第9-10页 |
| 第二章 故障诊断原理和半导体自动测试系统 | 第10-16页 |
| ·故障诊断的基本原理 | 第10-12页 |
| ·故障诊断的基本概念 | 第10页 |
| ·故障诊断的方法 | 第10页 |
| ·故障诊断的过程 | 第10-11页 |
| ·故障诊断的智能化 | 第11-12页 |
| ·半导体自动测试系统 | 第12-16页 |
| ·自动测试系统 | 第12页 |
| ·半导体自动测试系统 | 第12-16页 |
| 第三章 GPIB 接口和仪器驱动程序 | 第16-27页 |
| ·接口总线简介 | 第16-17页 |
| ·GPIB 总线接口 | 第17-20页 |
| ·GPIB 接口总线的设计目标 | 第17页 |
| ·GPIB 接口功能 | 第17-19页 |
| ·NI－488.2 | 第19-20页 |
| ·仪器驱动程序 | 第20-27页 |
| ·仪器驱动器概念及组成 | 第20-21页 |
| ·仪器驱动程序的模型 | 第21-23页 |
| ·测试机驱动程序分析 | 第23-27页 |
| 第四章 GPIB 联合调试系统的设计实现 | 第27-49页 |
| ·联合调试系统的总体分析 | 第27-28页 |
| ·软件的总体层次结构 | 第27-28页 |
| ·接口模块的设计 | 第28-33页 |
| ·模块的功能 | 第28-29页 |
| ·模块的界面 | 第29-31页 |
| ·模块实现的流程图 | 第31页 |
| ·实现步骤说明 | 第31-33页 |
| ·模拟测试模块的设计 | 第33-39页 |
| ·模块的功能 | 第33-34页 |
| ·模块的界面 | 第34-37页 |
| ·模块实现的流程图 | 第37页 |
| ·实现步骤说明 | 第37-39页 |
| ·模拟测试机模块的设计 | 第39-47页 |
| ·模块的功能 | 第39-40页 |
| ·模块的界面 | 第40-42页 |
| ·模块实现的流程图 | 第42-43页 |
| ·实现步骤说明 | 第43-47页 |
| ·调试总结 | 第47-49页 |
| 第五章 专家系统原理和智能诊断的设计实现 | 第49-61页 |
| ·专家系统的基本原理 | 第49-52页 |
| ·专家系统的基本概念 | 第49页 |
| ·专家系统的基本结构 | 第49-51页 |
| ·专家系统的开发工具 | 第51-52页 |
| ·CLIPS 工具 | 第52-55页 |
| ·CLIPS 中的事实与规则 | 第52-54页 |
| ·CLIPS 中的模式匹配 | 第54页 |
| ·CLIPS 中的推理方法－Rete 算法 | 第54-55页 |
| ·智能诊断专家系统的设计实现 | 第55-60页 |
| ·智能诊断专家系统实现的功能 | 第55页 |
| ·电源问题 | 第55-58页 |
| ·控制回路问题 | 第58-59页 |
| ·主计算机问题 | 第59页 |
| ·程序下载问题 | 第59-60页 |
| ·结论和展望 | 第60-61页 |
| 第六章 总结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 附录 | 第64-76页 |
| 附录 1 | 第64-65页 |
| 附录 2 | 第65-66页 |
| 附录 3 | 第66-68页 |
| 附录 4 | 第68-76页 |
| 发表论文及科研情况 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
