| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-15页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·课题研究的意义 | 第11-14页 |
| ·研究光开关的意义 | 第11-13页 |
| ·研究单片高速硅基光电探测器的意义 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的内容与论文结构安排 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 2 与偏振无关光开关 | 第15-40页 |
| ·引言 | 第15-16页 |
| ·2×2 光开关原理与矩阵分析 | 第16-21页 |
| ·2×2 光开关原理 | 第16-17页 |
| ·2×2 光开关矩阵分析 | 第17-18页 |
| ·等光程性分析 | 第18-19页 |
| ·与国外技术比较 | 第19-21页 |
| ·4×4 光开关原理与矩阵分析 | 第21-27页 |
| ·4×4 光开关原理 | 第21-23页 |
| ·4×4 光开关矩阵分析 | 第23-24页 |
| ·等光程性分析 | 第24-25页 |
| ·4×4 光开关路由控制 | 第25-27页 |
| ·光互连与光交换系统中偏振相关损耗对偏振态的影响 | 第27-31页 |
| ·PDL 的定义 | 第27页 |
| ·具有PDL 器件的Stokes 模型 | 第27-29页 |
| ·PDL 对出射光偏振度的影响 | 第29-30页 |
| ·PDL 对出射光强度的影响 | 第30-31页 |
| ·PDL 对信号光偏振态的影响 | 第31页 |
| ·与偏振无关光开关的偏振相关损耗分析 | 第31-37页 |
| ·2×2 光开关偏振相关损耗分析 | 第32-34页 |
| ·4×4 光开关偏振相关损耗分析 | 第34-37页 |
| ·偏振相关损耗的测量 | 第37-38页 |
| ·光开关的装配与调试 | 第38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 3 硅基集成光电探测器 | 第40-59页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·光电探测器基础 | 第40-44页 |
| ·光电探测器工作原理 | 第40-42页 |
| ·光电探测器性能参数 | 第42-44页 |
| ·硅基集成光电探测器的种类与发展 | 第44-49页 |
| ·用于光电集成的探测器种类 | 第44-45页 |
| ·硅基集成光电探测器的发展 | 第45-49页 |
| ·基于标准集成电路工艺的硅基光电探测器 | 第49-57页 |
| ·与标准双极工艺兼容的集成光探测器 | 第50-52页 |
| ·基于CMOS 工艺的集成光电探测器 | 第52-55页 |
| ·BiCMOS 工艺下集成光电探测器集成 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 4 共振腔增强型硅探测器的原理及特性分析 | 第59-69页 |
| ·引言 | 第59页 |
| ·RCE 探测器原理 | 第59-60页 |
| ·RCE 光电探测器的量子效率 | 第60-62页 |
| ·RCE 光电探测器的带宽特性 | 第62-65页 |
| ·RCE 光电探测器的波长选择性 | 第65页 |
| ·一种简单的 RCE 探测器的制作技术 | 第65-67页 |
| ·Fabry-Perot 光学谐振腔及在光电器件中的应用 | 第67-68页 |
| ·Fabry-Perot 光学谐振腔 | 第67页 |
| ·Fabry-Perot 光学谐振腔在光电器件中的应用 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 5 全文总结 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 附录 1 攻读学位期间发表论文目录 | 第76-77页 |
| 附录 2 术语表 | 第77-78页 |