高温超导薄膜微波表面电阻的测量方法
第一章 绪论 | 第1-12页 |
·超导发展 | 第8-9页 |
·超导技术的优越性 | 第9-10页 |
·高温超导薄膜 | 第10-11页 |
·工作内容 | 第11-12页 |
第二章 高温超导电性分析 | 第12-19页 |
·二流体模型 | 第12-13页 |
·高温超导薄膜的表面电阻 | 第13-17页 |
·与常规金属表面电阻的比较 | 第17-19页 |
第三章 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法讨论 | 第19-31页 |
·圆柱腔谐振器法 | 第19-20页 |
·平行板谐振器法 | 第20页 |
·微带谐振器法 | 第20-21页 |
·介质谐振器法 | 第21页 |
·双谐振器法 | 第21-23页 |
·镜像型蓝宝石介质谐振器法 | 第23-31页 |
·镜像法的理论模型 | 第24-26页 |
·A、B 值的确定 | 第26-31页 |
第四章 镜像法测试薄膜表面电阻 | 第31-41页 |
·固有品质因数 Q0 的测量 | 第31-32页 |
·镜像法的镜像对称性分析 | 第32-38页 |
·蓝宝石晶体对镜像对称性的影响 | 第33-36页 |
·耦合装置对镜像对称性的影响 | 第36-38页 |
·镜像型蓝宝石介质谐振器法的改进过程 | 第38-41页 |
·第一代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第38-39页 |
·第二代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第39页 |
·第三代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第39-40页 |
·第四代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第40-41页 |
第五章 镜像法测试系统的建立 | 第41-51页 |
·腔体主体尺寸设计 | 第41-44页 |
·蓝宝石圆柱介质谐振器的尺寸设计 | 第41页 |
·金属屏蔽腔的尺寸设计 | 第41-44页 |
·耦合装置的设计 | 第44-46页 |
·短路面到耦合孔距离的设计 | 第44-45页 |
·耦合孔的设计 | 第45-46页 |
·测试系统的组建 | 第46-47页 |
·测试结果 | 第47-51页 |
·“零电阻”校准 | 第47-48页 |
·“银板”校准 | 第48页 |
·高温超导薄膜 Rs 测试 | 第48-49页 |
·与前几代的比较 | 第49-50页 |
·讨论 | 第50-51页 |
第六章 结论 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-54页 |
致谢 | 第54-55页 |
个人简历 | 第55页 |