高温超导薄膜微波表面电阻的测量方法
| 第一章 绪论 | 第1-12页 |
| ·超导发展 | 第8-9页 |
| ·超导技术的优越性 | 第9-10页 |
| ·高温超导薄膜 | 第10-11页 |
| ·工作内容 | 第11-12页 |
| 第二章 高温超导电性分析 | 第12-19页 |
| ·二流体模型 | 第12-13页 |
| ·高温超导薄膜的表面电阻 | 第13-17页 |
| ·与常规金属表面电阻的比较 | 第17-19页 |
| 第三章 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法讨论 | 第19-31页 |
| ·圆柱腔谐振器法 | 第19-20页 |
| ·平行板谐振器法 | 第20页 |
| ·微带谐振器法 | 第20-21页 |
| ·介质谐振器法 | 第21页 |
| ·双谐振器法 | 第21-23页 |
| ·镜像型蓝宝石介质谐振器法 | 第23-31页 |
| ·镜像法的理论模型 | 第24-26页 |
| ·A、B 值的确定 | 第26-31页 |
| 第四章 镜像法测试薄膜表面电阻 | 第31-41页 |
| ·固有品质因数 Q0 的测量 | 第31-32页 |
| ·镜像法的镜像对称性分析 | 第32-38页 |
| ·蓝宝石晶体对镜像对称性的影响 | 第33-36页 |
| ·耦合装置对镜像对称性的影响 | 第36-38页 |
| ·镜像型蓝宝石介质谐振器法的改进过程 | 第38-41页 |
| ·第一代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第38-39页 |
| ·第二代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第39页 |
| ·第三代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第39-40页 |
| ·第四代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统 | 第40-41页 |
| 第五章 镜像法测试系统的建立 | 第41-51页 |
| ·腔体主体尺寸设计 | 第41-44页 |
| ·蓝宝石圆柱介质谐振器的尺寸设计 | 第41页 |
| ·金属屏蔽腔的尺寸设计 | 第41-44页 |
| ·耦合装置的设计 | 第44-46页 |
| ·短路面到耦合孔距离的设计 | 第44-45页 |
| ·耦合孔的设计 | 第45-46页 |
| ·测试系统的组建 | 第46-47页 |
| ·测试结果 | 第47-51页 |
| ·“零电阻”校准 | 第47-48页 |
| ·“银板”校准 | 第48页 |
| ·高温超导薄膜 Rs 测试 | 第48-49页 |
| ·与前几代的比较 | 第49-50页 |
| ·讨论 | 第50-51页 |
| 第六章 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 个人简历 | 第55页 |