耐压泄漏安全测试及关键技术的研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题研究的意义 | 第10-11页 |
| ·电器安全测试仪目前的研究现状及发展趋势 | 第11-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-14页 |
| ·本文的内容安排 | 第14-15页 |
| 第二章 耐压泄漏测试仪的工作原理及改进 | 第15-24页 |
| ·工作原理 | 第15-16页 |
| ·耐压测试的系统方框图 | 第15-16页 |
| ·泄漏测试的系统方框图 | 第16页 |
| ·硬件设计的特点 | 第16-22页 |
| ·有效值测试电路 | 第16-17页 |
| ·AD转换电路 | 第17-21页 |
| ·硬件保护 | 第21-22页 |
| ·采用分段线性拟合提高测试精度 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 模块化设计方法 | 第24-33页 |
| ·软件的标准化设计 | 第24-25页 |
| ·硬件的模块化设计 | 第25-28页 |
| ·各模块之间的联系 | 第28-29页 |
| ·通讯协议的设计 | 第29-32页 |
| ·串行异步通信 | 第29页 |
| ·差错控制 | 第29-30页 |
| ·流量控制 | 第30页 |
| ·面向字符的通信协议 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 低失真率正弦波PWM算法研究及仿真 | 第33-47页 |
| ·SPWM调制技术及其发展 | 第33-37页 |
| ·计算机仿真结果 | 第37-43页 |
| ·牛顿迭代法 | 第37-40页 |
| ·程序运行结果及仿真结果 | 第40-43页 |
| ·不同的调制方法的比较 | 第43-46页 |
| ·PAM方式 | 第43页 |
| ·SPWM方式 | 第43-45页 |
| ·调制方法的确定 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 高压正弦波逆变器的实现 | 第47-69页 |
| ·SPWM产生方案的比较 | 第47-51页 |
| ·模拟法 | 第47页 |
| ·数字法 | 第47页 |
| ·电路物理模型仿真 | 第47-51页 |
| ·双CPU的实现方案 | 第51-57页 |
| ·精简指令集CPU-Mega8 | 第51-52页 |
| ·SPI通讯方式 | 第52-54页 |
| ·SPWM生成方框及实测波形 | 第54-57页 |
| ·高压逆变器系统结构 | 第57页 |
| ·大范围电压调节的实现 | 第57-59页 |
| ·输出变压器的设计 | 第59-62页 |
| ·PFC部分的设计 | 第62-68页 |
| ·PFC的发展历史 | 第62页 |
| ·输入功率因数PF定义 | 第62-63页 |
| ·非连续性导电模式PFC功率因素补偿 | 第63-66页 |
| ·使用UC3842的非连续导电模式PFC | 第66-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 功率输出模块的设计与保护 | 第69-79页 |
| ·H桥的设计与输出波形 | 第69页 |
| ·IGBT的保护 | 第69-77页 |
| ·IGBT的工作原理 | 第69-71页 |
| ·IGBT的擎住效应与安全工作区 | 第71-72页 |
| ·过流保护 | 第72-75页 |
| ·过压过热保护 | 第75-77页 |
| ·死区时间的生成及对输出信号波形的影响 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 结论与展望 | 第79-82页 |
| 1 本课题的主要研究成果 | 第79-80页 |
| 2 展望及进一步设想 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 攻读学位期间发表的论文和获奖 | 第85-86页 |
| 独创性声明 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
