FFT IP核设计及其可测性设计的研究
| 中文摘要 | 第1页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究状况 | 第9-12页 |
| ·IP 核的发展状况 | 第9-10页 |
| ·FFT 处理技术的实现及发展状况 | 第10-11页 |
| ·集成电路可测性设计的发展状况 | 第11-12页 |
| ·论文的组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 FFT 算法讨论及其实现结构选择 | 第13-23页 |
| ·离散傅立叶变换及其快速算法概述 | 第13-15页 |
| ·离散傅立叶变换（DFT） | 第13-14页 |
| ·快速傅立叶变换发展概述 | 第14-15页 |
| ·基2 按时间抽取的FFT 算法 | 第15-19页 |
| ·算法原理推导 | 第15-17页 |
| ·算法的说明 | 第17-19页 |
| ·基4 按时间抽取的FFT 算法 | 第19-20页 |
| ·FFT 的四种实现结构 | 第20-22页 |
| ·本文FFT 算法及硬件实现结构的选择 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 快速傅立叶变换IP 软核设计及仿真 | 第23-46页 |
| ·知识产权（IP）核概述 | 第23-26页 |
| ·IP 核的基本概念 | 第23-24页 |
| ·IP 核的基本特征 | 第24页 |
| ·IP 核的设计方法和开发过程 | 第24-26页 |
| ·FFT IP 软核设计及仿真 | 第26-45页 |
| ·FFT IP 软核总体结构及模块划分 | 第26-27页 |
| ·蝶形运算模块设计 | 第27-32页 |
| ·存储器A 模块设计 | 第32-35页 |
| ·存储器B 模块设计 | 第35-38页 |
| ·旋转因子模块设计 | 第38-41页 |
| ·控制模块设计 | 第41-42页 |
| ·数据控制模块设计 | 第42-43页 |
| ·综合仿真 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 可测性设计概述 | 第46-53页 |
| ·电路测试的相关概念 | 第46-48页 |
| ·测试 | 第46页 |
| ·故障 | 第46-47页 |
| ·测试生成 | 第47页 |
| ·测试效率 | 第47-48页 |
| ·可测性设计的内涵 | 第48-49页 |
| ·可测性设计的定义 | 第48页 |
| ·可测性设计三要素 | 第48-49页 |
| ·可测性设计的意义 | 第49页 |
| ·可测性设计的方法 | 第49-52页 |
| ·提高可测性的一些简单方法 | 第49-50页 |
| ·常用的可测性设计的方法 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 随机逻辑内建自测试设计 | 第53-66页 |
| ·随机逻辑内建自测试原理 | 第53-59页 |
| ·测试矢量生成 | 第54-57页 |
| ·测试响应分析 | 第57-59页 |
| ·随机逻辑内建自测试的FPGA 实现 | 第59-65页 |
| ·BIST 控制电路 | 第60-61页 |
| ·测试矢量生成电路 | 第61-63页 |
| ·特征分析电路 | 第63-64页 |
| ·比较电路 | 第64页 |
| ·八位行波进位加法器BIST 综合逻辑仿真 | 第64-65页 |
| ·故障模拟 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 结论与展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第71页 |
