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基于组合面型基准件的角度误差测量关键技术研究

摘要第3-4页
abstract第4-5页
第1章 绪论第8-22页
    1.1 研究的背景及意义第8-10页
        1.1.1 课题的背景第8-9页
        1.1.2 研究的意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-20页
        1.2.1 机床几何误差参数检测现状第10-18页
        1.2.2 角度非接触测量研究现状第18-20页
    1.3 本文的研究目标与研究内容第20-22页
        1.3.1 研究目标第20页
        1.3.2 研究内容第20-22页
第2章 系统的测量原理第22-30页
    2.1 L型基准件的设计原理第22-25页
        2.1.1 L型基准件的设计来源第22-23页
        2.1.2 L型基准件的标定方法第23-25页
    2.2 角度测量原理第25-26页
    2.3 位移测量原理第26-28页
    2.4 垂直度的测量第28-29页
    2.5 本章小结第29-30页
第3章 测量系统的小型化研制第30-42页
    3.1 光学测头传感器的设计第30-37页
        3.1.1 系统的测量原理第31页
        3.1.2 测量光路第31-32页
        3.1.3 选用的光学器件简介第32-35页
        3.1.4 激光光束特征参数第35-37页
    3.2 基准件参数的设计第37-39页
    3.3 ZEMAX仿真第39-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第4章 成像光斑处理第42-54页
    4.1 光斑中心定位第42-46页
        4.1.1 灰度重心法第42-43页
        4.1.2 灰度质心法第43页
        4.1.3 高斯拟合第43-44页
        4.1.4 本文中采用的方法第44-46页
    4.2 光斑中心的稳定性与精度定位实验第46-52页
        4.2.1 光斑中心的稳定性实验第47-50页
        4.2.2 光斑中心的定位精度实验第50-52页
    4.3 本章小结第52-54页
第5章 系统标定及角度测量实验第54-70页
    5.1 系统的标定实验第54-63页
        5.1.1 L型基准件的标定实验第54-57页
        5.1.2 像素的标定实验第57-61页
        5.1.3 接收器位置的标定实验第61-63页
    5.2 三维位移台角度测量实验第63-68页
        5.2.1 角度测量的稳定性实验第64-65页
        5.2.2 角度测量的重复性实验第65-66页
        5.2.3 角度测量的精度验证实验第66-68页
    5.3 本章小结第68-70页
第6章 系统误差分析第70-82页
    6.1 表面粗糙度的影响第70-73页
    6.2 阈值选取的影响第73-75页
    6.3 光束大小的影响第75-77页
    6.4 遇到的问题及解决方案第77-81页
    6.6 本章小结第81-82页
第7章 总结与展望第82-84页
    7.1 总结第82-83页
    7.2 展望第83-84页
参考文献第84-88页
发表论文和参加科研情况说明第88-90页
附录第90-92页
致谢第92页

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