| 摘要 | 第4-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第1章 绪论 | 第15-40页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第15-25页 |
| 1.1.1 薄膜键盘FPC | 第15-17页 |
| 1.1.2 裸板印刷及其缺陷 | 第17-18页 |
| 1.1.3 硅胶帽安装及其缺陷 | 第18-21页 |
| 1.1.4 裸板印刷和硅胶帽粘贴缺陷当前检测现状 | 第21-23页 |
| 1.1.5 课题研究的意义 | 第23-25页 |
| 1.2 基于机器视觉的算法研究现状及分析 | 第25-37页 |
| 1.2.1 典型缺陷检测算法现状及分析 | 第25-35页 |
| 1.2.1.1 PCB典型缺陷检测现状及分析 | 第25-30页 |
| 1.2.1.2 FPC典型缺陷检测现状及分析 | 第30-31页 |
| 1.2.1.3 参考法各关键环节研究现状及分析 | 第31-35页 |
| 1.2.2 薄浆缺陷检测算法现状及分析 | 第35-36页 |
| 1.2.3 胶帽偏移缺陷检测现状及分析 | 第36-37页 |
| 1.3 本文研究内容与章节安排 | 第37-40页 |
| 第2章 视觉检测系统搭建及图像预处理 | 第40-47页 |
| 2.1 视觉检测系统搭建及图库的建立 | 第40-43页 |
| 2.1.1 FPC裸板缺陷检测系统及图库 | 第40-41页 |
| 2.1.1.1 视觉检测系统 | 第40-41页 |
| 2.1.1.2 图库的建立 | 第41页 |
| 2.1.2 胶帽偏移缺陷检测系统及图库 | 第41-43页 |
| 2.1.2.1 视觉检测系统 | 第41-43页 |
| 2.1.2.2 图库的建立 | 第43页 |
| 2.2 图像预处理 | 第43-46页 |
| 2.2.1 FPC裸板图像预处理 | 第43-44页 |
| 2.2.2 键盘电路板图像预处理 | 第44-46页 |
| 2.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第3章 FPC裸板银线断路检测 | 第47-69页 |
| 3.1 FPC裸板柔性形变分析 | 第47-49页 |
| 3.2 银线断路特征分析及检测方案设计 | 第49-52页 |
| 3.2.1 银线断路特征分析 | 第49-51页 |
| 3.2.2 检测方案设计 | 第51-52页 |
| 3.3 基于骨架特征点和DTSS模型的断路定位 | 第52-62页 |
| 3.3.1 FPC银线同伦骨架的提取 | 第52-54页 |
| 3.3.2 银线骨架点分类 | 第54-57页 |
| 3.3.3 基于DTSS模型的断路检测 | 第57-62页 |
| 3.3.3.1 尺度空间理论 | 第57-58页 |
| 3.3.3.2 动态模板尺度空间模型(DTSS) | 第58-61页 |
| 3.3.3.3 基于DTSS模型的断路定位 | 第61-62页 |
| 3.4 断路区域重构 | 第62-64页 |
| 3.5 实验与结果分析 | 第64-68页 |
| 3.5.1 算法步骤及算法评价指标 | 第64-65页 |
| 3.5.2 骨架分支噪声去除效果与分析 | 第65-66页 |
| 3.5.3 实验结果与对比分析 | 第66-68页 |
| 3.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 第4章 FPC裸板银线凸起检测 | 第69-89页 |
| 4.1 银线凸起特征分析及检测方案设计 | 第69-71页 |
| 4.1.1 凸起特征分析 | 第69-70页 |
| 4.1.2 凸起检测难点分析 | 第70-71页 |
| 4.1.3 检测方案设计 | 第71页 |
| 4.2 基于MDB序列的凸起检测及定量测量 | 第71-76页 |
| 4.2.1 MDB序列基本原理 | 第71-72页 |
| 4.2.2 基于MDB序列的凸起检测 | 第72-76页 |
| 4.2.2.1 银线子区域划分 | 第72-73页 |
| 4.2.2.2 对偶轮廓的获取 | 第73-74页 |
| 4.2.2.3 基于MDB的凸起检测及定量测量 | 第74-76页 |
| 4.3 基于柱状体配准模型的凸起精确识别 | 第76-83页 |
| 4.3.1 凸起与光斑噪声差异性特征分析及解决思路 | 第76-77页 |
| 4.3.2 模型与理论 | 第77-81页 |
| 4.3.2.1 点分布模型 | 第77-79页 |
| 4.3.2.2 柱状体配准模型 | 第79-81页 |
| 4.3.3 PDM与柱CRM相结合的凸起缺陷精确识别 | 第81-83页 |
| 4.4 实验与结果分析 | 第83-87页 |
| 4.4.1 算法流程 | 第83页 |
| 4.4.2 凸起检测实验结果与分析 | 第83-85页 |
| 4.4.2.1 样本形变程度分析 | 第83-84页 |
| 4.4.2.2 本文算法效果实验与分析 | 第84页 |
| 4.4.2.3 算法效果对比实验与分析 | 第84-85页 |
| 4.4.3 凸起与假性凸起区分实验与结果分析 | 第85-87页 |
| 4.4.3.1 关键参数的确定 | 第85-87页 |
| 4.4.3.2 实验结果与分析 | 第87页 |
| 4.5 本章小结 | 第87-89页 |
| 第5章 FPC裸板银线薄浆检测 | 第89-104页 |
| 5.1 薄浆特征分析 | 第89-91页 |
| 5.1.1 薄浆缺陷特征分析 | 第89页 |
| 5.1.2 薄浆缺陷检测难点分析 | 第89-91页 |
| 5.2 基于概率分布理论的薄浆初步提取 | 第91-93页 |
| 5.2.1 四分位法 | 第91-92页 |
| 5.2.2 候选薄浆像素的获取 | 第92-93页 |
| 5.3 基于LMP的薄浆精确识别 | 第93-98页 |
| 5.3.1 局部马尔科夫模式基本理论 | 第94-96页 |
| 5.3.2 基于局部马尔科夫模式检测薄浆缺陷 | 第96-98页 |
| 5.4 实验与结果分析 | 第98-103页 |
| 5.4.1 算法步骤与评价指标的定义 | 第98-99页 |
| 5.4.2 算法关键参数的确定 | 第99-100页 |
| 5.4.3 算法效果与对比分析 | 第100-101页 |
| 5.4.3.1 样本形变程度分析 | 第100页 |
| 5.4.3.2 算法效果与对比分析 | 第100-101页 |
| 5.4.4 生产现场效果在线验证 | 第101-103页 |
| 5.5 本章小结 | 第103-104页 |
| 第6章 硅胶帽粘贴偏移检测 | 第104-130页 |
| 6.1 胶帽偏移检测关键问题分析 | 第104-105页 |
| 6.2 图像形变分析 | 第105-107页 |
| 6.3 基于改进B样条和模糊连接的胶帽偏移检测 | 第107-121页 |
| 6.3.1 检测方案设计 | 第108-109页 |
| 6.3.2 测度指标MDST的定义 | 第109-110页 |
| 6.3.3 基于B样条的非闭环空间变换方法 | 第110-115页 |
| 6.3.3.1 B样条图像非刚性配准原理分析 | 第110-114页 |
| 6.3.3.2 非闭环B样条特征点空间变换方法 | 第114-115页 |
| 6.3.4 基于模糊连接性的空间变换参数求解策略优化 | 第115-121页 |
| 6.4 实验与结果分析 | 第121-129页 |
| 6.4.1 算法步骤 | 第121-123页 |
| 6.4.2 实验与效果分析 | 第123-128页 |
| 6.4.2.1 模拟图像配准效果 | 第123页 |
| 6.4.2.2 胶帽偏移检测效果实验 | 第123-128页 |
| 6.4.3 生产现场效果在线验证 | 第128-129页 |
| 6.5 本章小结 | 第129-130页 |
| 第7章 结论 | 第130-134页 |
| 7.1 结论 | 第130-132页 |
| 7.2 展望 | 第132-134页 |
| 参考文献 | 第134-143页 |
| 在学研究成果 | 第143-144页 |
| 致谢 | 第144页 |
