基于PLS的带有离群点的质量相关故障诊断研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 故障诊断算法概述 | 第13-16页 |
| 1.2.1 故障诊断算法分类 | 第13-15页 |
| 1.2.2 多元统计故障诊断 | 第15-16页 |
| 1.3 基于PLS的故障诊断研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3.1 前处理PLS研究现状 | 第17页 |
| 1.3.2 后处理PLS研究现状 | 第17-18页 |
| 1.4 离群点PLS研究现状 | 第18-19页 |
| 1.5 本文主要内容和结构安排 | 第19-22页 |
| 第二章 预备知识 | 第22-32页 |
| 2.1 TE过程介绍 | 第22-26页 |
| 2.2 标准PLS算法相关知识介绍 | 第26-31页 |
| 2.2.1 标准PLS介绍及故障诊断 | 第26-29页 |
| 2.2.2 标准PLS仿真验证 | 第29-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于PLS的质量相关故障诊断改进算法 | 第32-52页 |
| 3.1 已有质量相关PLS算法 | 第32-36页 |
| 3.1.1 T-PLS算法 | 第32-34页 |
| 3.1.2 IPLS算法 | 第34-36页 |
| 3.2 KPI-PLS算法 | 第36-40页 |
| 3.3 数值例子仿真 | 第40-45页 |
| 3.3.1 KPI不相关故障诊断 | 第42-43页 |
| 3.3.2 KPI相关故障诊断 | 第43-45页 |
| 3.4 TE过程仿真 | 第45-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-52页 |
| 第四章 针对离群点问题的改进质量相关故障诊断算法 | 第52-64页 |
| 4.1 MPRM算法 | 第53-55页 |
| 4.1.1 全局Bregman散度 | 第53-54页 |
| 4.1.2 MPRM算法流程 | 第54-55页 |
| 4.2 APLS算法 | 第55-56页 |
| 4.3 KPI-APLS算法 | 第56-57页 |
| 4.4 TE过程仿真 | 第57-62页 |
| 4.4.1 KPI-APLS在单KPI时仿真 | 第57-62页 |
| 4.4.2 KPI-APLS在多KPI时仿真 | 第62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 文章总结 | 第64页 |
| 5.2 不足与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 研究成果及已发表的学术论文 | 第72-74页 |
| 作者及导师简介 | 第74-75页 |
| 附件 | 第75-76页 |
