抗单粒子翻转SRAM-based FPGA测试系统研究与设计
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| ·SRAM-based FPGA的辐射应用 | 第8页 |
| ·SRAM-based FPGA中的单粒子效应 | 第8-13页 |
| ·单粒子效应原理 | 第9-11页 |
| ·FPGA各资源的SEU机理及影响 | 第11-13页 |
| ·SRAM-based FPGA的单粒子翻转加固 | 第13-14页 |
| ·SRAM-based FPGA的单粒子翻转测试 | 第14-15页 |
| ·本论文的研究意义与内容安排 | 第15-17页 |
| 第2章 单粒子翻转测试原理与方法 | 第17-26页 |
| ·地面模拟试验 | 第17-21页 |
| ·测试对象与内容 | 第17页 |
| ·模拟测试原理 | 第17-20页 |
| ·测试方法 | 第20-21页 |
| ·误差注入仿真试验 | 第21-25页 |
| ·测试对象与内容 | 第21-22页 |
| ·误差注入原理 | 第22-25页 |
| ·测试方法 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 系统总体设计 | 第26-37页 |
| ·系统功能与分析 | 第26-28页 |
| ·系统设计 | 第28-36页 |
| ·总体结构设计 | 第28-31页 |
| ·测试流程设计 | 第31-32页 |
| ·误差注入设计 | 第32-33页 |
| ·命令结构设计 | 第33-34页 |
| ·数据结构设计 | 第34-35页 |
| ·通讯协议设计 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 硬件设计与实现 | 第37-50页 |
| ·系统板 | 第37-48页 |
| ·电源模块与SEL加固模块 | 第38-39页 |
| ·串口驱动模块 | 第39-40页 |
| ·MCU模块 | 第40-41页 |
| ·RAM模块 | 第41页 |
| ·CTL FPGA模块 | 第41-45页 |
| ·TST FPGA模块 | 第45-47页 |
| ·DUT配置加固模块 | 第47页 |
| ·DUT转接板插座 | 第47-48页 |
| ·DUT板 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 软件设计与实现 | 第50-53页 |
| ·PC端控制软件 | 第50-52页 |
| ·MCU控制软件 | 第52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第6章 系统内部逻辑设计与实现 | 第53-78页 |
| ·控制FPGA总体设计 | 第53-54页 |
| ·控制FPGA主要接口设计 | 第54-60页 |
| ·异步接口 | 第54-55页 |
| ·MCU接口开关 | 第55-56页 |
| ·SelectMAP接口模块 | 第56-60页 |
| ·控制FPGA主要状态机设计 | 第60-75页 |
| ·主状态机模块 | 第60-62页 |
| ·配置回读模块 | 第62-71页 |
| ·部分重配、误差注入模块 | 第71-75页 |
| ·功能测试FPGA设计 | 第75-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第7章 测试试验与结果分析 | 第78-91页 |
| ·待测电路与TMR加固 | 第78-79页 |
| ·测试向量 | 第79-80页 |
| ·仿真试验 | 第80-81页 |
| ·仿真试验结果与分析 | 第81-82页 |
| ·辐照试验 | 第82-85页 |
| ·试验目的与内容 | 第83页 |
| ·测试结构 | 第83-84页 |
| ·测试条件与测试样片 | 第84-85页 |
| ·辐照试验结果与分析 | 第85-88页 |
| ·SEL测试 | 第85-86页 |
| ·SEU测试 | 第86-88页 |
| ·仿真与辐照试验结果对比 | 第88-89页 |
| ·本试验与文献试验结果对比 | 第89-90页 |
| ·本系统与文献系统对比 | 第90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第8章 总结与展望 | 第91-92页 |
| ·课题研究总结 | 第91页 |
| ·课题研究展望 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-95页 |
| 致谢 | 第95-96页 |
