| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 CMOS 图像传感器概述 | 第8-9页 |
| 1.2 CMOS 图像传感器中模数转换器发展现状 | 第9-13页 |
| 1.3 选题意义 | 第13页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 1.5 本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 CMOS 图像传感器 ADC 理论基础 | 第15-22页 |
| 2.1 CMOS 图像传感器中的 ADC 类型 | 第15-17页 |
| 2.2 模数转换器的性能参数 | 第17-19页 |
| 2.2.1 静态性能参数 | 第17-18页 |
| 2.2.2 动态性能参数 | 第18-19页 |
| 2.3 常用列并行数模转换器简介 | 第19-21页 |
| 2.3.1 单斜模数转换器 | 第19-20页 |
| 2.3.2 逐次逼近模数转换器 | 第20页 |
| 2.3.3 循环模数转换器 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 应用于 CMOS 图像传感器列级电路的双采样电路分析 | 第22-38页 |
| 3.1 CMOS 图像传感器中的噪声 | 第22-23页 |
| 3.2 单节点存储模拟相关双采样 | 第23-25页 |
| 3.3 双节点存储读出电路 | 第25-27页 |
| 3.4 单节点存储模拟 CDS 电路设计 | 第27-33页 |
| 3.4.1 开关电容放大器 | 第27-28页 |
| 3.4.2 电路中运算放大器的选择 | 第28-29页 |
| 3.4.3 运算放大器的噪声分析 | 第29-31页 |
| 3.4.4 开关电容放大器仿真结果 | 第31-33页 |
| 3.5 数字双采样 | 第33-37页 |
| 3.5.1 数字双采样列并行 ADC 的结构及转换流程 | 第34-36页 |
| 3.5.2 数字双采样电路中的误差 | 第36-37页 |
| 3.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 10 位数字双采样列并行 ADC 的电路实现 | 第38-63页 |
| 4.1 带隙基准电压源和分压电路设计 | 第39-40页 |
| 4.2 电荷泵电路设计 | 第40-43页 |
| 4.3 斜坡发生器部分设计 | 第43-47页 |
| 4.3.1 几种 DAC 的结构及特点 | 第44-45页 |
| 4.3.2 分段电容阵列 DAC 工作状态分析 | 第45-46页 |
| 4.3.3 分段电容阵列 DAC 编码方式 | 第46-47页 |
| 4.4 比较器部分设计 | 第47-51页 |
| 4.4.1 比较器简介 | 第47-48页 |
| 4.4.2 数字双采样电路中的比较器 | 第48-49页 |
| 4.4.3 运算放大器的噪声分析 | 第49-50页 |
| 4.4.4 影响比较器精度的主要因素 | 第50-51页 |
| 4.5 数字双采样计数器部分设计 | 第51-54页 |
| 4.5.1 计数器的种类 | 第51-52页 |
| 4.5.2 数字双采样计数器 | 第52-54页 |
| 4.6 选通锁存器部分设计 | 第54-55页 |
| 4.7 各部分电路仿真结果 | 第55-62页 |
| 4.7.1 带隙基准和分压电路 | 第55-56页 |
| 4.7.2 电荷泵 | 第56-58页 |
| 4.7.3 斜坡发生器 | 第58页 |
| 4.7.4 数字双采样计数器 | 第58-59页 |
| 4.7.5 数字双采样列并行 ADC | 第59-62页 |
| 4.8 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 全文总结 | 第63页 |
| 5.2 工作展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
