| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-24页 |
| 1.2.1 大厚度比复杂构件的 X 射线检测 | 第14-16页 |
| 1.2.2 图像融合方法 | 第16-20页 |
| 1.2.3 X 射线序列图像融合研究现状 | 第20-24页 |
| 1.3 主要研究内容与章节安排 | 第24-26页 |
| 第2章 复杂结构件 X 射线序列图像成像技术原理 | 第26-34页 |
| 2.1 引言 | 第26页 |
| 2.2 变电压 X 射线成像技术 | 第26-30页 |
| 2.2.1 变电压 X 射线成像技术原理 | 第26-29页 |
| 2.2.2 变电压 X 射线成像技术流程 | 第29-30页 |
| 2.3 X 射线序列图像融合结果的评价 | 第30-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 基于空间域的 X 射线序列图像融合 | 第34-58页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 最佳灰度带和 X 射线图像的曝光度 | 第34-37页 |
| 3.2.1 最佳灰度带 | 第34-36页 |
| 3.2.2 X 射线图像的曝光度 | 第36-37页 |
| 3.3 基于曝光度的 X 射线序列图像融合 | 第37-45页 |
| 3.3.1 基于曝光度的 X 射线序列图像的直接融合 | 第37-42页 |
| 3.3.2 曝光度和金字塔变换相结合的 X 射线序列图像融合 | 第42-45页 |
| 3.4 基于分层算法的 X 射线序列图像融合 | 第45-50页 |
| 3.4.1 图像的分层 | 第45-46页 |
| 3.4.2 基本层的融合 | 第46页 |
| 3.4.3 伪边缘的处理 | 第46-48页 |
| 3.4.4 细节层的融合 | 第48-50页 |
| 3.5 实验结果与分析 | 第50-57页 |
| 3.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 基于支持度变换的 X 射线序列图像融合 | 第58-79页 |
| 4.1 引言 | 第58-59页 |
| 4.2 支持度变换基本理论 | 第59-64页 |
| 4.2.1 SVM | 第59-60页 |
| 4.2.2 LS-SVM | 第60页 |
| 4.2.3 映射最小二乘向量机的支持度 | 第60-62页 |
| 4.2.4 支持度滤波器 | 第62-63页 |
| 4.2.5 支持度变换 | 第63-64页 |
| 4.3 基于支持度变换的图像融合框架 | 第64页 |
| 4.4 基于支持度变换的 X 射线序列图像的融合 | 第64-68页 |
| 4.4.1 低频近似图像的融合 | 第65页 |
| 4.4.2 伪边缘的处理 | 第65-67页 |
| 4.4.3 支持度序列图像的融合 | 第67-68页 |
| 4.5 实验结果与分析 | 第68-77页 |
| 4.6 本章小结 | 第77-79页 |
| 第5章 基于无下采样 Contourlet 变换（NSCT）的 X 射线序列图像融合 | 第79-100页 |
| 5.1 引言 | 第79页 |
| 5.2 非下采样 Contourlet 变换基本理论 | 第79-86页 |
| 5.2.1 多尺度分解工具 | 第79-81页 |
| 5.2.2 非下采样 Contourlet 变换 | 第81-83页 |
| 5.2.3 非下采样 Contourlet 变换的图像分解 | 第83-86页 |
| 5.3 基于 NSCT 的图像融合框架 | 第86-87页 |
| 5.4 基于 NSCT 的 X 射线序列图像的融合 | 第87-90页 |
| 5.4.1 低频子带系数的融合 | 第87-88页 |
| 5.4.2 伪边缘的处理 | 第88-89页 |
| 5.4.3 高频子带系数的融合 | 第89-90页 |
| 5.5 实验结果与分析 | 第90-99页 |
| 5.5.1 X 射线序列图像融合实验 | 第90-98页 |
| 5.5.2 本文融合方法运行时间比较 | 第98-99页 |
| 5.6 本章小结 | 第99-100页 |
| 第6章 总结与展望 | 第100-102页 |
| 6.1 论文研究工作总结 | 第100-101页 |
| 6.2 论文研究工作展望 | 第101-102页 |
| 参考文献 | 第102-111页 |
| 攻读博士学位期间的科研成果 | 第111-112页 |
| 致谢 | 第112-113页 |
