基于FPGA的TCAM开发板设计与实现
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第8-11页 |
1.1 课题背景与意义 | 第8-9页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第9-10页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第10页 |
1.4 论文结构安排 | 第10-11页 |
2 系统概述 | 第11-19页 |
2.1 TCAM简介 | 第11-16页 |
2.1.1 TCAM概述 | 第11-12页 |
2.1.2 TCAM管理规则 | 第12-13页 |
2.1.3 TCAM功能分析 | 第13-15页 |
2.1.4 TCAM的应用发展 | 第15-16页 |
2.2 系统功能概述 | 第16-17页 |
2.3 应用前景 | 第17页 |
2.4 面临的挑战 | 第17-18页 |
2.5 本章小结 | 第18-19页 |
3 系统架构设计及原理分析 | 第19-27页 |
3.1 系统架构框图 | 第19-20页 |
3.2 基于FPGA的设计原理分析 | 第20-23页 |
3.2.1 FPGA概述 | 第20-21页 |
3.2.2 FPGA设计流程 | 第21-23页 |
3.3 JTAG接口 | 第23-25页 |
3.4 ISE在线逻辑分析仪 | 第25-26页 |
3.5 本章小结 | 第26-27页 |
4 系统硬件设计与制作 | 第27-47页 |
4.1 系统设计 | 第27页 |
4.2 开发板各模块参数及硬件电路设计 | 第27-44页 |
4.2.1 电源模块 | 第27-32页 |
4.2.2 FPGA控制模块 | 第32-38页 |
4.2.3 TCAM模块 | 第38-41页 |
4.2.4 有源晶振模块 | 第41-42页 |
4.2.5 FLASH电路模块 | 第42-44页 |
4.3 PCB版图的设计 | 第44页 |
4.4 BOM清单 | 第44-46页 |
4.5 PCB板实物 | 第46页 |
4.6 本章小结 | 第46-47页 |
5 测试方法与结果分析 | 第47-56页 |
5.1 PCB板基本性能测试 | 第47-48页 |
5.1.1 静电测试 | 第47页 |
5.1.2 电源电压测试 | 第47-48页 |
5.1.3 晶振波形测试 | 第48页 |
5.2 测试代码编写 | 第48-51页 |
5.2.1 初始化 | 第48-49页 |
5.2.2 读写操作 | 第49-50页 |
5.2.3 搜索操作 | 第50页 |
5.2.4 Device ID功能测试 | 第50页 |
5.2.5 顶层文件 | 第50-51页 |
5.3 测试结果 | 第51-55页 |
5.3.1 读写搜索结果验证 | 第51-54页 |
5.3.2 Device ID验证结果 | 第54-55页 |
5.4 本章小结 | 第55-56页 |
结论 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
致谢 | 第60-61页 |