| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 相位测量常用方法简介 | 第11-20页 |
| 1.2.1 条纹投射方式 | 第11-14页 |
| 1.2.2 莫尔轮廓术 | 第14-15页 |
| 1.2.3 傅里叶变换轮廓术 | 第15-16页 |
| 1.2.4 相位测量轮廓术 | 第16-19页 |
| 1.2.5 正弦相位调制轮廓术 | 第19-20页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第20-21页 |
| 1.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第二章 光纤干涉条纹投射三维形貌测量系统 | 第22-37页 |
| 2.1 光纤干涉条纹投射三维形貌测量原理 | 第22-23页 |
| 2.2 光纤干涉条纹投射模型及相位控制方法 | 第23-27页 |
| 2.2.1 光纤干涉原理及数学建模 | 第23-26页 |
| 2.2.2 光纤干涉条纹投射相位控制系统 | 第26-27页 |
| 2.3 光纤干涉条纹投射反馈控制系统 | 第27-31页 |
| 2.4 光纤干涉条纹投射相位提取方法 | 第31-36页 |
| 2.4.1 图像预处理 | 第31-32页 |
| 2.4.2 相位提取方法 | 第32-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 基于外调制光纤干涉条纹投射相位测量系统 | 第37-60页 |
| 3.1 正弦相位调制光纤干涉条纹投射相位轮廓术 | 第37-38页 |
| 3.2 正弦相位调制光纤干涉条纹投射相位求解算法 | 第38-49页 |
| 3.2.1 最佳常数比例因子 | 第41-44页 |
| 3.2.2 正弦相移干涉应用实例 | 第44-46页 |
| 3.2.3 模拟与仿真 | 第46-49页 |
| 3.3 光纤干涉条纹投射相位调制系数 | 第49-51页 |
| 3.4 正弦相位调制光纤干涉条纹投射相位稳定控制系统 | 第51-59页 |
| 3.4.1 基于反正切求解的相位稳定原理 | 第52-55页 |
| 3.4.2 基于正弦求解的相位稳定原理 | 第55-58页 |
| 3.4.3 两种相位稳定算法比较 | 第58-59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第四章 基于内调制光纤干涉条纹投射相位测量系统 | 第60-73页 |
| 4.1 内调制光纤干涉条纹投射相位轮廓术 | 第60-61页 |
| 4.2 干涉条纹投射相位求解算法 | 第61-63页 |
| 4.3 最佳调制系数及初始相位补偿 | 第63-67页 |
| 4.3.1 最佳调制系数 | 第63-65页 |
| 4.3.2 仿真与实验 | 第65-67页 |
| 4.4 内调制光纤干涉条纹投射反馈控制系统 | 第67-72页 |
| 4.4.1 反馈控制系统原理 | 第68-69页 |
| 4.4.2 仿真与实验 | 第69-72页 |
| 4.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 光纤干涉条纹投射相位测量系统搭建及实验 | 第73-85页 |
| 5.1 光纤干涉条纹投射系统设计 | 第73-79页 |
| 5.1.1 光纤干涉条纹投射子系统搭建 | 第75-77页 |
| 5.1.2 光电二极管系统设计 | 第77-79页 |
| 5.2 压电陶瓷光纤相位控制器设计 | 第79-80页 |
| 5.3 正弦相位调制光纤干涉条纹投射重复性误差分析 | 第80-82页 |
| 5.4 正弦相位调制光纤干涉条纹投射法对物体表面三维测量 | 第82-84页 |
| 5.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 工作总结 | 第85-86页 |
| 6.2 展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-99页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第99-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
