| 中文摘要 | 第6-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 富氢化合物硅烷的研究背景与意义 | 第11-16页 |
| 1.1.1 氢及富氢化合物的研究意义及现状 | 第11-14页 |
| 1.1.2 高压下碳氢化合物(二元氢化物)导电率研究 | 第14-16页 |
| 1.2 论文选题的意义 | 第16-18页 |
| 1.3 论文的主要内容和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 二级轻气炮加载原理和技术 | 第20-31页 |
| 2.1 二级轻气炮加载技术 | 第20-22页 |
| 2.1.1 二级轻气炮的工作原理 | 第20-21页 |
| 2.1.2 磁测速原理 | 第21-22页 |
| 2.2 样品的高温高压产生原理 | 第22-31页 |
| 2.2.1 冲击高压的产生原理 | 第23-26页 |
| 2.2.2 样品的等熵压缩过程 | 第26-28页 |
| 2.2.3 多次冲击过程简述以及其优缺点 | 第28-31页 |
| 第三章 多次冲击加载下硅烷电阻率测量的实验技术 | 第31-44页 |
| 3.1 电阻率测量实验技术 | 第31-36页 |
| 3.1.1 液态硅烷样品的制备技术 | 第31-32页 |
| 3.1.2 低温冷却系统 | 第32-33页 |
| 3.1.3 液面检测技术 | 第33-36页 |
| 3.2 光电同步测量系统 | 第36-44页 |
| 3.2.1 传统四探针恒流源测量电路存在的不足 | 第36-39页 |
| 3.2.2 多次冲击加载过程中的光电同步测量电路 | 第39-41页 |
| 3.2.3 样品仓的设计参数及其体积常量C的计算 | 第41-44页 |
| 第四章 硅烷在多次冲击压缩下的电阻率的变化规律 | 第44-56页 |
| 4.1 实验数据分析方法 | 第44-48页 |
| 4.1.1 硅烷在多次冲击加载过程中压力、密度、温度、以及时间计算 | 第44-45页 |
| 4.1.2 实验数据结合理论计算的分析方法 | 第45-48页 |
| 4.1.3 数据分析的可靠性与优越性 | 第48页 |
| 4.2 多次冲击压缩下液态硅烷的电阻率 | 第48-56页 |
| 4.2.1 典型实验结果 | 第48-50页 |
| 4.2.2 液态硅烷的电阻率随压力变化关系及其解释 | 第50-53页 |
| 4.2.3 液态硅烷在0-60GPa的电阻率 | 第53-54页 |
| 4.2.4 实验技术与结论总结 | 第54-56页 |
| 全文总结与展望 | 第56-57页 |
| 全文总结 | 第56页 |
| 展望 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第62页 |
