| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 引言 | 第9-11页 |
| 1.1.1 阻燃型漆包电磁线 | 第9-10页 |
| 1.1.2 防水绕包线 | 第10-11页 |
| 1.2 薄膜绕包线的特点 | 第11页 |
| 1.3 牵引电机用薄膜绕包线主要性能要求及评价标准 | 第11-12页 |
| 1.4 牵引电机用薄膜绕包线的性能分类 | 第12-13页 |
| 1.5 牵引电机用薄膜绕包线失效 | 第13页 |
| 1.6 研究背景及意义 | 第13-15页 |
| 第2章 烧结设备的改进 | 第15-23页 |
| 2.1 高频加热控制系统改进 | 第15-16页 |
| 2.2 高频感应线圈的改进 | 第16-17页 |
| 2.3 红外线测温仪的改进 | 第17-18页 |
| 2.4 绕包头恒张力装置的改进 | 第18-20页 |
| 2.4.1 绕包头恒张力控制器的改进 | 第18-19页 |
| 2.4.2 恒张力控制器改进前后对节距漂移量的影响 | 第19-20页 |
| 2.5 绕包头电机的改进 | 第20-21页 |
| 2.6 薄膜烧结机导轮的优化 | 第21页 |
| 2.7 本章小结 | 第21-23页 |
| 第3章 裸线加工工艺改进 | 第23-32页 |
| 3.1 铜导体表面质量改进 | 第23-25页 |
| 3.1.1 油污、毛刺、黑点的改进 | 第23-24页 |
| 3.1.2 表面丝印和麻坑的改进 | 第24-25页 |
| 3.1.3 表面针孔的改进 | 第25页 |
| 3.2 铜导体氧化改进 | 第25-31页 |
| 3.2.1 铜导体表面氧化物形成原因分析 | 第26-27页 |
| 3.2.2 抽真空温度对表面氧化的影响 | 第27页 |
| 3.2.3 保护性气体对表面氧化的影响 | 第27-28页 |
| 3.2.4 清洗润滑液对表面氧化的影响 | 第28-29页 |
| 3.2.5 隔离防护对表面氧化的影响 | 第29-30页 |
| 3.2.6 不同改进工艺的分析 | 第30-31页 |
| 3.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 薄膜线加工工艺改进 | 第32-46页 |
| 4.1 工艺改进的实验环境 | 第32-33页 |
| 4.1.1 实验设备 | 第32-33页 |
| 4.1.2 实验材料 | 第33页 |
| 4.2 薄膜绕包线绝缘层气泡的改进 | 第33-40页 |
| 4.2.1 绕包工作角度对绝缘层气泡的影响 | 第33-35页 |
| 4.2.2 薄膜扯紧力对绝缘层气泡的影响 | 第35-37页 |
| 4.2.3 高频感应电流加热温度对绝缘层气泡的影响 | 第37-38页 |
| 4.2.4 加热感应线圈出口离压轮的距离对绝缘层气泡的影响 | 第38-40页 |
| 4.3 薄膜绕包线耐刮强度的改进 | 第40-41页 |
| 4.4 薄膜绕包线耐局部放电性能的改进 | 第41-44页 |
| 4.4.1 高频感应电流加热温度对耐局部放电性能的影响 | 第42-43页 |
| 4.4.2 薄膜扯紧力对耐局部放电性能的影响 | 第43-44页 |
| 4.4.3 巩固加热温度对耐局部放电性能的影响 | 第44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第5章 薄膜绕包线工艺改进后性能对比验证 | 第46-51页 |
| 5.1 实验环境 | 第46页 |
| 5.1.1 实验设备与工艺流程 | 第46页 |
| 5.1.2 实验材料 | 第46页 |
| 5.2 实验方法 | 第46-48页 |
| 5.2.1 裸线加工工艺改进最优参数 | 第46-47页 |
| 5.2.2 薄膜线加工工艺改进最优参数 | 第47-48页 |
| 5.3 实验结果 | 第48-49页 |
| 5.4 国内外薄膜绕包线性能对比 | 第49-50页 |
| 5.4.1 表面质量对比 | 第49页 |
| 5.4.2 扭转、浸水试验对比 | 第49-50页 |
| 5.4.3 储存性能、耐局部放电性能对比 | 第50页 |
| 5.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第6章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 6.1 结论 | 第51页 |
| 6.2 展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 个人简历与攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第58页 |
