| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第13-45页 |
| 1.1 量子点简介 | 第13-14页 |
| 1.2 量子点发光类型 | 第14-18页 |
| 1.2.1 量子点带边发光:荧光 | 第14-16页 |
| 1.2.2 量子点的掺杂离子发光:磷光 | 第16-18页 |
| 1.3 量子点波函数与量子点发光性质的关系 | 第18-22页 |
| 1.4 量子点的应用 | 第22-24页 |
| 1.4.1 荧光量子点的应用 | 第22-24页 |
| 1.4.2 磷光量子点的应用 | 第24页 |
| 1.5 荧光量子点应用中存在的问题:荧光闪烁和光漂白 | 第24-34页 |
| 1.5.1 荧光闪烁机理:俄歇效应 | 第25-27页 |
| 1.5.2 量子点中的双激子和多激子 | 第27-30页 |
| 1.5.4 俄歇效应和双激子发射量子产率 | 第30页 |
| 1.5.5 抑制量子点荧光闪烁现状 | 第30-34页 |
| 1.5.6 抑制量子点的光漂白现状 | 第34页 |
| 1.6 磷光量子点中存在的问题 | 第34-35页 |
| 1.7 本论文立题与工作思路 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-45页 |
| 第二章 实验部分 | 第45-57页 |
| 2.1 药品和试剂 | 第45页 |
| 2.2 CdSe/CdS核壳量子点合成 | 第45-46页 |
| 2.3 CdSe/Cd_xZn_((1-x))S和CdSe_yS_((1-y))/Cd_xZn_((1-x))S均匀合金壳层量子点合成 | 第46页 |
| 2.4 Mn:ZnSe/ZnS核壳量子点的合成 | 第46-47页 |
| 2.5 量子点的水相交换 | 第47-48页 |
| 2.6 集合体样品的基本物理和光学性质表征 | 第48-52页 |
| 2.6.1 透射电子显微镜(TEM) | 第48页 |
| 2.6.2 粉末X射线衍射能谱(XRD) | 第48页 |
| 2.6.3 能量色散X射线谱能谱(EDX) | 第48页 |
| 2.6.4 稳态光谱 | 第48页 |
| 2.6.5 瞬态荧光光谱 | 第48-51页 |
| 2.6.6 绝对荧光量子产率(PL-QY) | 第51-52页 |
| 2.7 单颗粒样品的光学性质表征 | 第52-55页 |
| 2.7.1 单颗粒薄膜样品的制备 | 第52-53页 |
| 2.7.2 时间标记-时间分辨(TTTR)技术 | 第53-54页 |
| 2.7.3 基于TTTR技术的单颗粒光学性质测量 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 第三章 波函数限域与非闪烁荧光量子点 | 第57-85页 |
| 3.1 本章目的 | 第57页 |
| 3.2 非闪烁荧光均匀合金壳层量子点的设计 | 第57-60页 |
| 3.2.1 现存非闪烁量子点的设计策略 | 第57-58页 |
| 3.2.2 非闪烁量子点的设计策略 | 第58-60页 |
| 3.3 波函数限域量子点的结构表征 | 第60-62页 |
| 3.3.1 量子点的晶体结构表征 | 第60-61页 |
| 3.3.2 量子点的壳层合金结构表征 | 第61-62页 |
| 3.4 均匀合金壳层量子点溶液集合体光学性质与波函数限域 | 第62-67页 |
| 3.4.1 均匀合金壳层量子点溶液集合体的稳态光谱学性质 | 第62-64页 |
| 3.4.2 均匀合金壳层量子点溶液集合体的瞬态荧光谱 | 第64页 |
| 3.4.3 激子态波函数限域 | 第64-67页 |
| 3.5 均匀合金壳层量子点单分子光谱性质 | 第67-74页 |
| 3.5.1 均匀合金壳层量子点单颗粒稳态荧光光谱 | 第67-69页 |
| 3.5.2 均匀合金壳层量子点单颗粒的闪烁行为 | 第69-74页 |
| 3.6 波函数限域量子点的化学与光化学稳定性 | 第74-81页 |
| 3.6.1 量子点表面亲水性配体交换与荧光闪烁 | 第74-77页 |
| 3.6.2 量子点光漂白 | 第77-80页 |
| 3.6.3 量子点光漂白的半衰期 | 第80-81页 |
| 3.7 小结 | 第81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 第四章 荧光闪烁抑制:俄歇效应与波函数限域 | 第85-110页 |
| 4.1 本章目的 | 第85页 |
| 4.2 实验设计和原理 | 第85-103页 |
| 4.2.1 荧光饱和方法测量双激子量子产率原理 | 第85-89页 |
| 4.2.2 固态薄膜荧光饱和方法的缺欠 | 第89-90页 |
| 4.2.3 微液膜制备与实验测量方法 | 第90-91页 |
| 4.2.4 微液膜荧光饱和方法中确定准确值的方法 | 第91-92页 |
| 4.2.5 微液膜法与量子点的带电激子态 | 第92-93页 |
| 4.2.6 微液膜法与量子点的光漂白等化学稳定性 | 第93-94页 |
| 4.2.7 光子二阶相关方法验证微液膜荧光饱和方法测量双激子量子产率的准确性 | 第94-103页 |
| 4.3 双激子量子产率与俄歇效率 | 第103-108页 |
| 4.3.1 激发光吸收光子数值的确定 | 第103-105页 |
| 4.3.2 双激子荧光量子产率与俄歇效率 | 第105-107页 |
| 4.3.3 光子二阶相关方法测得的双激子量子产率验证微液膜荧光饱和法的准确性 | 第107-108页 |
| 4.4 小结 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-110页 |
| 第五章 高质量磷光量子点的发光机理 | 第110-125页 |
| 5.1 本章目的 | 第110页 |
| 5.2 掺杂量子点微液膜法 | 第110-113页 |
| 5.2.1 掺杂量子点微液膜法光学装置的特殊性 | 第110-112页 |
| 5.2.2 掺杂量子点液体薄膜样品的设计 | 第112页 |
| 5.2.3 掺杂量子点液体薄膜样品的值确定 | 第112-113页 |
| 5.3 Mn:ZnSe/ZnS掺杂核壳量子点的发光寿命 | 第113-121页 |
| 5.3.1 锰离子浓度相关的磷光寿命 | 第113-115页 |
| 5.3.2 Mn:ZnSe/ZnS掺杂核壳量子点磷光发射寿命的环境稳定性及其与波函数限域的关系 | 第115-116页 |
| 5.3.3 锰掺杂核壳量子点的磷光饱和行为 | 第116-118页 |
| 5.3.4 锰掺杂核壳量子点发光机理 | 第118-120页 |
| 5.3.5 掺杂量子点的单颗粒光学性质测量的挑战 | 第120-121页 |
| 5.4 锰掺杂核壳量子点的寿命标记应用 | 第121-122页 |
| 5.5 小结 | 第122页 |
| 参考文献 | 第122-125页 |
| 第六章 总结和展望 | 第125-127页 |
| 作者博士期间所取得的科研成果 | 第127页 |
