| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-25页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-23页 |
| 1.2.1 结构生色机理研究 | 第11-16页 |
| 1.2.1.1 薄膜干涉生色 | 第11-14页 |
| 1.2.1.2 衍射生色 | 第14-15页 |
| 1.2.1.3 散射生色 | 第15-16页 |
| 1.2.2 结构生色在纺织染整中的应用研究 | 第16-22页 |
| 1.2.2.1 结构生色纤维 | 第16-19页 |
| 1.2.2.2 结构生色织物 | 第19-21页 |
| 1.2.2.3 光子晶体墨水 | 第21-22页 |
| 1.2.3 静电自组装技术的研究 | 第22-23页 |
| 1.3 课题的研究目的及主要研究内容 | 第23-25页 |
| 1.3.1 课题的研究目的 | 第23页 |
| 1.3.2 课题的主要研究内容 | 第23-25页 |
| 第二章 实验部分 | 第25-30页 |
| 2.1 实验材料、试剂及仪器 | 第25-26页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第25页 |
| 2.1.2 实验试剂 | 第25页 |
| 2.1.3 实验仪器 | 第25-26页 |
| 2.2 实验方法 | 第26-27页 |
| 2.2.1 纳米SiO_2粒子的制备 | 第26页 |
| 2.2.2 SiO_2分散液及PEI溶液的配制 | 第26-27页 |
| 2.2.3 石英基板的预处理 | 第27页 |
| 2.2.4 结构色薄膜的构建 | 第27页 |
| 2.3 测试表征方法 | 第27-30页 |
| 2.3.1 纳米SiO_2粒子粒径及其分布的测定 | 第27-28页 |
| 2.3.2 数码照片表征分析 | 第28页 |
| 2.3.3 基板表面形貌的SEM及AFM表征分析 | 第28页 |
| 2.3.4 薄膜厚度及折射率的测定 | 第28页 |
| 2.3.5 紫外可见光谱表征分析 | 第28页 |
| 2.3.6 多角度分光光度测色表征 | 第28-30页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第30-55页 |
| 3.1 自制纳米SiO_2粒子的表征 | 第30-31页 |
| 3.2 纳米粒子的粒径尺度对SiO_2/PEI薄膜结构的影响 | 第31-40页 |
| 3.2.1 薄膜的组装过程 | 第31-36页 |
| 3.2.2 薄膜表面的高低起伏 | 第36-39页 |
| 3.2.3 薄膜内部的疏松程度 | 第39-40页 |
| 3.3 纳米粒子的粒径尺度对薄膜光学性能及颜色的影响 | 第40-50页 |
| 3.3.1 光对薄膜的反射及透射作用 | 第40-47页 |
| 3.3.2 薄膜颜色及其虹彩效应 | 第47-50页 |
| 3.4 薄膜的生色理论研究 | 第50-55页 |
| 3.4.1 散射 | 第51-53页 |
| 3.4.2 衍射 | 第53-55页 |
| 第四章 结论与展望 | 第55-57页 |
| 4.1 结论 | 第55页 |
| 4.2 展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |